[0-9] A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z |
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Titel |
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Hauptautor |
Vortrag |
Details |
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[0-9] |
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"Computational Imaging" zur Optimierung optischer Abbildungssysteme
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D. Pätz |
B1 |
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3D-Formerfassung mittels Korrelation projizierter Specklemuster
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M. Dekiff |
P11 |
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40 Jahre ZERODUR® - Historischer Rückblick und zukünftige Herausforderungen
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T. Döhring |
B31 |
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A |
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Absolute Formvermessung rotierender Festkörper mit einem Phasen-Laser-Doppler-Distanz-Sensor
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P. Günther |
A1 |
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Absolute Topographievermessung gekrümmter optischer Oberflächen mit hoher lateraler Auflösung
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A. Wiegmann |
P28 |
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Adaptive LED-Beleuchtung für die Bildverarbeitung
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H. Illg |
A11 |
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Analyse und Bildverbesserung von Multiplex-Hologrammen
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A. Winkler |
P13 |
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Anwendung der Tiefenlithographie für die Spleißung von Monomodefasern
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X. Liu |
P40 |
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Anwendung Seltener-Erden-Chelatkomplexe als Farbstoffmarkierung für die Adaptation eines Durchflusszytometers
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A. Joschko |
P24 |
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A spectral filter analyzer for Bragg grating based strain and temperature measurements
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N. Samfirescu |
P38 |
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Atominterferometrie, die Basis für hochgenaue innovative Quantensensoren
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E. Rasel |
S4 |
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Aufbau eines Faserbasierten Laserresonators mit zwei Fabry-Pérot Kavitäten und einer gemeinsamen aktiven Zone für Sensorikanwendungen.
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H. Krause |
B24 |
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Augenempfindlichkeit im Zwielicht für Objekte mit schmalem Farbspektrum
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H. Babucke |
A20 |
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B |
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Besonderheiten bei der Reflexionsgradmessung zur Schichtcharakterisierung auf Floatglas
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K. Kröger |
P18 |
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Bestimmung der Abbildungsleistung von Sensoren für digitale SLRs mittels Fourier-Spektroskopie
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J. Schneider |
A14 |
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Bewertung von Phasenfiltern in optischen Abbildungssystemen
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R. Hild |
B19 |
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C |
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Charakterisierung und Optimierung der Messgenauigkeit eines topometrischen 3D-Messsystems
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P. Berssenbrügge |
P12 |
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Charakterisierung und Optimierung von Algorithmen für die numerische Autofokussierung in der Digitalholographischen Mikroskopie
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P. Langehanenberg |
P35 |
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Charakterisierung und Qualitätsprüfung von optischem Glas
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R. Jedamzik |
P52 |
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Chromatische Aberrationen in der Weißlichtinterferometrie
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R. Berger |
A30 |
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Chromatische Punktsensoren in der Kontur- und Oberflächenmesstechnik
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M. Bretschneider |
P19 |
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D |
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Deflexionsmessverfahren zur schnellen Charakterisierung von Getriebewellen
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A. Hertzsch |
P43 |
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Delano-Diagramm, ein unterschätztes Designtool
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M. Schwab |
B7 |
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Der Laser-Doppler-Feldsensor - ein bildgebendes Messverfahren für die Mikro- und Nanofluidik
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C.Skupsch |
P14 |
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Design Konzepte für breitbandige hoch effiziente DOEs
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B. H. Kleemann |
B3 |
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Design und Bewertung eines THz Time Domain Imaging Systems
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C. Brückner |
B20 |
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Design und Entwicklung eines hochauflösenden Mikroobjektives für Werkzeugvermessung
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C. Grossmann |
P4 |
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Die Isoplanasiebedingung als effektives Mittel zur Komakontrolle im Optimierungsprozess optischer Systeme
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R. Wartmann |
B6 |
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Differentielles Raytracing zur effektiven Optimierung von Beleuchtungssystemen mit inkohärenter Strahlung
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O. Stolz |
B8 |
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Digitale Holographie zur dreidimensionalen Beobachtung in mikro-opto-fluidischen Systemen
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T. Meinecke |
P8 |
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Digitale Mehrwellenlängen-Holographie für die schnelle optische Inline Qualitätskontrolle
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D. Strohmeier |
A27 |
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Direkte Kalibrierung flächenmessender Interferometer mit dem TMS-Verfahren
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M. Schulz |
A6 |
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Dispersionscharakterisierung mikrostrukturierter Fasern
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R. Spittel |
B23 |
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E |
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Effiziente Beschreibung optischer Flächen und Rekonstruktion aus Gradienten mit verschobenen Basisfunktionen
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K.-H. Brenner |
B13 |
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Eindimensionale Diffusoren für Laseranwendungen
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R. Bitterli |
B33 |
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Ein effizientes Verfahren zur Bewertung von Zoom-Objektiven für digitale SLR-Kameras bezüglich Verzeichnung
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J. Gundermann |
P17 |
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Einfluss der nichtlokalen Antwort auf die Schreibzeit der Hologramme in Photopolymeren auf PMMA-Basis
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E. Tolstik |
P55 |
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Einfluss des optischen Systems auf interferometrische Durchmesserbestimmungen von Silizium-Präzisionskugeln für das Avogadro-Projekt
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G. Bartl |
H3 |
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Einfluss des piezoelektrischen Effekts auf die (2+1)D-Laserstrahlausbreitung in einem Sillenitkristall bei angelegtem elektrischem Feld
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O. Kashin |
B30 |
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Einfluss des Speckledurchmessers in der Rauheitsmessung mittels Speckle Interferometrie
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F. Salazar |
P25 |
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Einkopplung in Multi-Mode-Faser mit Strahl-Homogenisierern
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A. Bich |
P39 |
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Ein praktischer Interferometer-Aufbau zur Vermessung von Parabolspiegeln
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H. Babucke |
P32 |
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Einsatz der chromatisch-konfokalen spektralen Interferometrie (CCSI) zur Reduktion der Messunsicherheit bei chromatisch-konfokalen Topografiemessungen
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W. Lyda |
P15 |
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Elektrisch abstimmbare Filter und Schalter für die faseroptische Sensorik und Nachrichtentechnik
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T. Tschudi |
B21 |
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Empfang von Gravitationswellen mit Laserinterferometern
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P. Aufmuth |
S5 |
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Erzeugung der zweiten Harmonischen mit nicht-beugungsbegrenzter Strahlung
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R. Güther |
P45 |
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ESPI for Aerospace and Aeronautics Applications
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T. Belenguer |
A25 |
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Experimentelle und theoretische Analyse der Steuerung des photochromen Effekts in einem Bi12TiO20-Kristall
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A. Matusevich |
P53 |
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F |
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Fabry-Pérot-Resonatoren mit strukturierten Spiegeln
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J. Jahns |
B34 |
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Farbe und zeitliche Kohärenz in physikalisch-optischer Modellierung
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F. Wyrowski |
B2 |
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Faseroptischer Laser-Doppler-Distanzsensor: Absolute Positionsmessung mit dem Doppler-Effekt
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J. Czarske |
H2 |
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Fertigungsverfahren zur direkten Bauteilintegration polymerer Lichtwellenleiter
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T. Fahlbusch |
A36 |
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Fizeau-type Multi-Pass Shack-Hartmann-Test
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J. Schwider |
A8 |
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Flächenrekonstruktion aus Gradientendaten: Vergleich von Interpolations- und Least Square - Ansätzen mit radialen Basisfunktionen
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U. Maier |
P6 |
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Formerkennung von Kleinstpartikeln (1µm - 3µm) mittels digitaler Bildverarbeitung
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S. Ernst |
P21 |
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Freiraum-optisches WDM-Ãœbertragungssystem mit MQW-Modulator-Array
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M. Bohling |
P47 |
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Fresnel-Freiformflächen in der Beleuchtungsoptik
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H. Ries |
A31 |
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H |
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Herstellung diffraktiver optischer Bauelemente mit beliebigen analogen Oberflächen unter Anwendung eines interferometrischen Phasenkontrastverfahrens
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M. Teschke |
B26 |
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Herstellung und Charakterisierung von nanophotonischen Strukturen mit Hilfe fokussierter Ionenstrahlen
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T. Kusserow |
B36 |
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Hochauflösender Laser-Doppler-Profilsensor zur Durchflussmessung von Hochdruck-Erdgas
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A. Voigt |
A2 |
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Hochauflösender optischer Drehwinkelsensor in Low-Cost Bauweise
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D. Hopp |
A35 |
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Hoch nichtlineare Photonische Kristallfasern auf Basis optimierter Glaskombinationen
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J. Kobelke |
P42 |
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I |
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Implementierung einer "Tripple-Wavelength" Laserdiode in ein Lithografiesystem und deren Anwendung
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H. Buse |
P23 |
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Information Efficient White-Light Interferometry
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O. Hybl |
A29 |
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Integriert Elektro-optische Leiterplatten auf Basis von Dünnglaslaminaten
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F. Ebling |
P41 |
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Integrierter mikrooptischer Pulsformer für fs-Anwendungen
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H. Knuppertz |
B29 |
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Interferenzlithografische Herstellung von rotationssymmetrischen Sub-Lambda-Gitterstrukturen
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M. Häfner |
P49 |
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Interferometrische Funduspulsationsmessung am Auge
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A. Malz |
A18 |
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Interferometrischer Quasiabsoluttest von Asphären unter Zuhilfenahme
einer wellenfrontselektiven Maske
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E. Geist |
A5 |
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K |
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Kabelloser, handgeführter 3D-Scanner mit WLAN
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P. Kühmstedt |
A9 |
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Kombination von CGH und Volumenhologrammen für 3D Anwendungen
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C. Hellmann |
P3 |
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Kompakte Femtosekunden-Faserlaser und Anwendungsbeispiele von der Biophotonik zur Präzisions-Metrologie
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A. Leitenstorfer |
H1 |
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Konstruktive Realisierung eines hochaperturigen 193nm-Mikroskops für die quantitative dimensionelle Charakterisierung von Mikro- und Nanostrukturen
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G. Ehret |
P34 |
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Konzepte zur Echtzeit-Vermessung spiegelnder Freiformflächen mittels RaySense
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J. Bähr |
P9 |
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L |
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Lasereinsatz im Automobilbau
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Y. Wansart |
H6 |
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Lichtmodulatorbasierte Wellenfrontmessung und Korrektur in Mikroskopen
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J. Hafner |
B11 |
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Low-loss resonant grating mirrors for polarization shaping in high power solid-state lasers
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M. Abdou-Ahmed |
B35 |
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M |
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Makyoh-Imaging zur Charakterisierung reflektierender Oberflächen
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A. v. Finck |
P31 |
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Measuring the refractive power with deflectometry in transmission
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M.C. Knauer |
A24 |
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Mechanische Spannungen in Seltenerd-dotierten Faser-Preformen
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F. Just |
P37 |
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Method to measure 'optical cooperativity'
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O. Abo-Namous |
A16 |
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Microdeflectometry: SEM-like quantitative 3D images with nanometer height sensitivity
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G. Häusler |
A21 |
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Miniaturisierung einer Anlage zur Untersuchung von Feinstaubteilchen kleiner PM 10 bis PM 2.5 mittels digitaler Inline Holografie
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H. Buse |
P22 |
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Modellierung einer hyperchromatischen Optik zur Glasdickenmessung
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B. Mitschunas |
P7 |
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N |
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Neuartiges System für die Fundusdiagnostik unter Anwendung von Mikrodisplays
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D. Link |
A17 |
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Neue Ansätze zur Normung von Oberflächenfehlern und Oberflächengüte optischer Komponenten unter Berücksichtigung neuerer Prüfverfahren
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M. Pfeffer |
P50 |
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Neues Zernike-ähnliches Verfahren zur Beschreibung der Abbildungsfehler polarisierender Optiken
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M. Totzeck |
B17 |
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Neue Tests der Lorentz-Invarianz
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S. Schiller |
S3 |
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Nichtinvasive Bestimmung der Profilgeometrie von diffraktiven optischen Strukturen mit hohem Aspektverhältnis
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G. Ehret |
A15 |
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Non-contact surface analysis by use of monochromatic speckle techniques
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B. Horvath |
A26 |
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Numerische Simulation von Volumengittern mittels Fourier-Modal-Methode
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T. Schöning |
P2 |
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O |
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Optical CCD lock-in device for differential Raman spectroscopy
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R. Heming |
P33 |
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Optical Data Bus Technologies for Automotive Applications - Principles, Limits and New Trends for Vehicles and Airplanes
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O. Strobel |
H8 |
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Optical Materials beyond Glass
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U. Peuchert |
H4 |
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Optik-Design von Head-up Displays mit NURBS
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P. Ott |
A34 |
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Optimierte Modellierung von Laserresonatoren mit lokal angepassten Propagationsverfahren
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M. Kuhn |
B5 |
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Optimierung, Herstellung und Toleranzanalyse von Refraktiven Strahlformungssystemen
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H. Schimmel |
B4 |
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Optimierung des Phasenrauschens in der zeitlich phasenschiebenden digitalholographischen Mikroskopie mit teilkohärenten Lichtquellen
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C. Remmersmann |
P36 |
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Optische Gläser - Langfristige Verfügbarkeit
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B. Hladik |
P48 |
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Optische Gläser und Optische Elemente - Vergleich der Spezifikations-Normen ISO CD 12123 und ISO 10110
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P. Hartmann |
P51 |
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Optische Manipulation von Mikropartikeln in mikro-opto-fluidischen Systemen
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A. Oeder |
B27 |
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Optischer Sensor zur Abstands- und Geschwindigkeitsmessung
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R. Büttner |
P26 |
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Optische Systeme für die Automobilindustrie - Vom Optik Design bis zur Serienfertigung
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R. Mayer |
H7 |
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P |
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Partial coherence effects in lensless in-line digital holographic microscopy
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U. Gopinathan |
A28 |
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Photoinduzierte Absorption in einem Bi12TiO20 -Kristall durch cw-Laserstrahlung und ns- und ps-Laserpulse
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A. Matusevich |
P54 |
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Photopolymer für Head-Up-Displays
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E. Tolstik |
B32 |
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Planare Optik und Mikrofluidik für lab-on-a-chip-Systeme
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M. Gruber |
B22 |
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Planar integrierte freiraum-optische Systeme in Saphir/GaN für die Biosensorik
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M. Hofmann |
B28 |
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Praxisgerechte Systemauslegung durch modulare analytische Messunsicherheitsmodellierung am Beispiel des Streifenprojektionssystems 3D-Kamera
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T. Bothe |
P16 |
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R |
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Radialpolarisatoren als Instrument für die optische Polarisationsmessung
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E.Frins |
B18 |
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Rechnen mit dem Weißlichtinterferometer
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T. Haist |
B12 |
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Reflektometrie - ein flexibles und robustes Messverfahren für unterschiedlichste Anwendungen im Mikro- und Makrobereich
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C. v. Kopylow |
A23 |
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Rekonstruktion der Gitterparameter zweidimensionaler Gitter mit Hilfe der RCWA und analytischer Gradientenberechnung
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B. Trauter |
B16 |
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S |
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Satelliten als präzise Raumzeit-Sensoren
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H. Dittus |
S6 |
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Scheibenlaser - Stand der Entwicklung und Skalierungsmöglichkeiten
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A. Giesen |
H5 |
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Schnelle Absolutmessung von asphärischen Flächen
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M. Küchel |
A7 |
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Schnelle pixelparallele Bildverarbeitung mit Zellularen Neuronalen Netzwerken (CNN) zur Regelung von Laserschweißprozessen
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D. Carl |
P57 |
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Schnelle Profilformbestimmung von diffraktiven Elementen durch Least-Square-Approximation mit verschobenen Basisfunktionen
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B. Trauter |
B15 |
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Selbstkonsistentes iteratives Verfahren zur Bestimmung glatter Oberflächen
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E. Slogsnat |
P27 |
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Selbstwechselwirkung von Laserstrahlen in einem kubischen photorefraktiven Kristall mit großer optischer Aktivität
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O. Kashin |
P46 |
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Sichtstrahlkalibrierung für optisch abbildende Systeme
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W. Li |
A10 |
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Simulation der elektromagnetischen Energiedichte im Fokus eines extrem weit geöffneten Parabolspiegels
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N. Lindlein |
B10 |
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Simulation der Selbstabbildung in nanooptischen Wellenleitern
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S. Helfert |
P1 |
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Simulation von Gitterbeugung mit der Normalenvektormethode
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P. Götz |
P5 |
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Spin-coating of photoresist on convex lens substrates
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R. Reichle |
P44 |
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Spot Array Shaping
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A. Bich |
P56 |
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Stereoskopische dynamische Phasenkontrastmikroskopie zur Untersuchung von mikrofluiden Geschwindigkeitsfeldern
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M. Oevermann |
A13 |
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Straßenbeleuchtung mit LEDs
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A. Timinger |
A32 |
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Streulicht- und Reflexionsmesstechnik für 13,5 nm
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S. Schröder |
P29 |
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Streulichtmesssystem ALBATROSS
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S. Gliech |
P30 |
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Sub-micron profilometry on macroscopic free-form surfaces
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J. Kaminski |
A22 |
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T |
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Theoretische Betrachtungen und Vergleich von diffraktiven und refraktiven Strahlformern
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M. Lano |
B9 |
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U |
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Ultra-hochpräzise, kontaktlose, absolute Abstandsmessung durch Mehrwellenlängeninterferometrie
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J. Petter |
A3 |
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Ultrapräzisionsgefertigte Freiformflächen für Anwendungen in planar integrierten optischen Systemen
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S. Stoebenau |
B25 |
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Ultrapräzisionsmessungen zur Auslotung der Grenzen der Allgemeinen Relativitätstheorie
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G. Schäfer |
S1 |
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Untersuchungen der Wellenfrontaberrationen des Auges mit einem adaptiven Echtzeitphoropter im Vergleich zu einem kommerziellen Aberrometer
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H. Babovsky |
A19 |
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Untersuchungen zur Digitalen Holographie mit synthetisch verminderter Kohärenzlänge
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S. Kosmeier |
P20 |
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Untersuchungen zur Messgenauigkeit eines korellationsbasierten Stereophotogrammetrieverfahrens
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M. Große |
P10 |
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V |
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|
Vergleich exakter optischer Lösungsmethoden im Zeitbereich in Hinblick auf Genauigkeit und Effizienz
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A. Unger |
B14 |
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Vermessung spiegelnder Freiformflächen im industriellen Umfeld mittels RaySense
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J. Bähr |
A12 |
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Von Atomuhren, U(h)rmetern und Frequenzkämmen: genaueste Frequenzmessungen und deren Anwendungen
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H. Schnatz |
S2 |
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W |
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|
Wellenfrontmessung mit Shearing-Interferometrie bei simultaner Erfassung beider Richtungsableitungen
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J. Schwider |
A4 |
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Z |
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|
Zur lichttechnischen Bewertung von Hell-Dunkel-Grenzen
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G. Kloos |
A33 |
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