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VORTRÄGE

Mittwoch 26.05.2010

 Vortrag

Zeit

Saal

Autor(en) und Titel

Details

  H1 09:00  T. Sure 
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  Mikroskop-Optik gestern und heute, der lange Weg zum perfekten Bild
  H2 09:30  R. GlĂ€be 
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  Diamantbearbeitung komplexer optischer OberflĂ€chen
  A1 10:45  G S Khan, M. Gubarev, C. Speegle, B. Ramsey 
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  Design Considerations of Polishing Lap for Computer-Controlled Cylindrical Polishing Process
  B1 10:45  H. Gilbergs, K. Frenner, P. Eberhard, W. Osten 
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  ModellgestĂŒtzte Rekonstruktion der Lage von dezentrierten Linsen in optischen Systemen
  A2 11:00  F. Klocke, O. Dambon, R. Zunke, D. WĂ€chter 
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  Automatische ProzessĂŒberwachung fĂŒr das Polieren optischer GlĂ€ser
  B2 11:00  D. Carl, P. Strohm, A. Blug, H. Höfler 
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  Einsatzmöglichkeiten von CNN-Kameras in der optischen Messtechnik und der schnellen industriellen Bildverarbeitung
  A3 11:15  A. Richmann, E. Willenborg, K. Wissenbach 
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  Polieren optischer PrĂ€zisionsoberflĂ€chen mit Laserstrahlung - PoliLas
  B3 11:15  C. Raizner, D. Fritsch 
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  Bildverarbeitungsbasierte StreulichtprĂŒfung hochdynamischer Kameras
  A4 11:30  T. Arnold, G. Böhm 
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  Plasma Jet Machining - Fertigung von off-axis Parabolspiegeln aus Siliziumkarbid
  B4 11:30  M. Hofmann, J. Schneider, R. MĂŒller, S. Sinzinger 
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  Streulichtbasierte Partikelkonzentrationsmessung auf der Grundlage von planaren Strahler-EmpfĂ€nger-Baugruppen
  A5 11:45  S. Stoebenau, Th. Witt, S. Sinzinger 
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  UltraprĂ€zisionsfertigung fĂŒr die Herstellung optischer FreiformflĂ€chen
  B5 11:45  A. Bayer, U. Leinhos, M. Schöneck, K. Mann 
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  Insitu Charakterisierung von Absorptionsverlusten und Degradationseffekten in Quarzglas: Photothermie & Spannungsdoppelbrechung (BMWi-Projekt PoliLas)
  A6 12:00  R. Kleindienst, S. Stoebenau, R. Kampmann, J. Pommer, N. Ebinger, S. Sinzinger 
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  Hybride, optische Bauteile - Funktionalisierung nicht planer, optischer OberflĂ€chen mittels Laserablation
  B6 12:00  M. S. MĂŒller, T. C. Buck, A. Heßke, A. W. Koch 
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  Messsystem zum experimentellen Nachweis der Polarisationsmodenkopplung in schubverzerrten Faser-Bragg-Gitter-Sensoren
  H3 13:30  P. Karbe, S. Kammans, J. Kaminski, S. Roth, D. Stuible,. B. Wiesner 
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  Digitalfotografie im professionellen Einsatz - Höchste Anforderungen an eine moderne Optik
  A7 14:00  S. Reichel, R. BiertĂŒmpfel, V. Wittmer 
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  Micro optical glass lens array for LED light collimation
  B7 14:00  B. Wojakowski, A. Schoonderbeek, O. Suttmann, J. DĂŒsing und R. Kling 
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  Strahlformungsmethoden fĂŒr die Lasermaterialbearbeitung von dĂŒnnen Schichten
  A8 14:15  U. Hartwig, H. Rehn 
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  LED-Kameralicht mit kompaktem Zoom
  B8 14:15  U. Klug, J. DĂŒsing, S. Baum, R. Kling 
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  Anwendungen ortsvarianter Polarisationsverteilungen bei der Mikromaterialbearbeitung mit ultrakurzen Laserpulsen
  A9 14:30  D. PĂ€tz, S. Sinzinger, S. Leopold, M. Hoffmann, F. Knöbber, O. Ambacher 
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  VergrĂ¶ĂŸerung der Auflösung von Compound Eye Kameras durch individuell verstimmbare Einzelfacetten
  B9 14:30  M. Hornaff, E. Beckert, T. Burkhardt, R. Eberhardt, A. TĂŒnnermann, H. Zoerb, S. Hedrich 
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  Spannungsarmes Löten von Linsenbaugruppen
  A10 14:45  C. Großmann, K. Frey, B. Hager, M. Palme, U. Lippmann, S. Riehemann, G. Notni 
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  Multimediaprojektionssystem mit OLED-Mikrodisplays
  B10 14:45  M. Fratz, P. Fischer, D. Giel 
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  Computer-generierte Polarisationshologramme zur vollstĂ€ndigen Kontrolle ĂŒber Amplitude und Phase
  A11 15:00  R. Chavez 
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  3D Nanoschichten zur Funktionalisierung von GrenzflĂ€chen
  B11 15:00  P. Hartmann, M. SchĂ€fer, Th. Westerhoff 
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  ZERODURÂź-Spiegel und Strukturen mit sehr hoher Gewichtserleichterung
  A12 17:00  I. Schmidt 
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  Der Einsatz von Infrarot- bis Röntgenstrahlung zur optischen Messung von Mikro-Merkmalen
  B12 17:00  K. Seidl, J. Knobbe, H. Lakner 
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  Design fĂŒr ein Zoomobjektiv mit deformierbaren Spiegeln
  A13 17:15  G. Pedrini, S. Maisch, J. Gaspar, O. Paul, W. Osten 
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  Measurement of nanometric deformations of microsystems
  B13 17:15  J. Sprenger 
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  Paraxiale Bestimmung der Steuerkurven von Zoomsystemen
  A14 17:30  D. Fleischle , W. Lyda, F. Mauch, T. Haist, W. Osten 
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  Untersuchung zum Zusammenhang von spektraler Abtastung und erreichbarer Messunsicherheit bei der chromatisch-konfokalen Mikroskopie an rauen Objekten
  B14 17:30  F. MerchĂĄn, X. Liu, K.-H. Brenner 
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  Effiziente Faserkopplung mit Gradientenindex-Stablinsen
  A15 17:45  L. Coriand, S. Schröder, A. DuparrĂ© 
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  PSD-Analyse: SchlĂŒssel zur funktionsgerechten Rauheitscharakterisierung optischer OberflĂ€chen
  B15 17:45  A. Timinger 
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  Optikdesign als SchlĂŒsseltechnologie fĂŒr LED-Leuchten
  A16 18:00  P. Lutzke, P. KĂŒhmstedt, G. Notni 
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  Optische 3D-Vermessung transluzenter Materialien
  B16 18:00  H. Ries, R. Jetter 
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  Korrektur von Farbfehlern in Beleuchtungsoptik mit diffraktiven Elementen
  A17 18:15  V. Nercissian, K. Mantel, I. Harder, A. Berger, J. Schwider, N. Lindlein 
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  Diffraktives 2D-Shearing-Interferometer mit partieller rĂ€umlicher KohĂ€renz
  B17 18:15  P. Jester , C. Menke, K. Urban 
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  Wavelet-Methoden zur Darstellung, Analyse und Simulation optischer GrenzflĂ€chen
 
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Donnerstag 27.05.2010

 Vortrag

Zeit

Saal

Autor(en) und Titel

Details

  H4 08:30  J. R. Rogers 
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  Aktuelle Entwicklungen in der Optikdesignsoftware
  H5 09:00  B. Dörband 
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  Passe- und RauheitsprĂŒftechnik: Welche Sensorik ist die richtige?
  A18 10:00  C. Faber, M. C. Seraphim, D. Sprenger, G. HĂ€usler 
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  Algorithmic Elimination of Parasitic Reflections in Deflectometry
  B18 10:00  M. Moritz 
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  Radiale Temperaturverteilung in einer dĂŒnnen Linse aufgrund Absorption und WĂ€rmeleitung
  A19 10:15  D. Sprenger, C. Faber, M.C. Seraphim, G. HĂ€usler 
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  UV-Deflectometry: No parasitic reflections
  B19 10:15  D. BĂŒrckner-Koydl, H. Heckmann, U. Ruhnau, R. Birkner 
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  Trigonometrische Durchrechnung von thermisch belasteten Optiksystemen
  A20 10:30  G. Ehret, M. Schulz, M. Baier, A. Fitzenreiter, M. Stavridis, C. Elster  
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  Vergleich von hochgenauen deflektometrischen Verfahren fĂŒr die Ebenheitsmetrologie
  B20 10:30  F. Wyrowski, C. Hellmann, H. Schweitzer 
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  Quasi-analytische Beachtung der Materialdispersion bei der Propagation von fs Pulsen durch optische Systeme
  A21 10:45  J. Schwider 
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  Multi-Pass Shack-Hartmann Ebenheits-Test: Monitoring von thermischen Deformationen
  B21 10:45  F. Wyrowski, C. Hellmann, H. Schweitzer, M. Kuhn 
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  Effizientes Design und Modellierung von Gitterzellen-Diffusoren
  A22 11:15  M. Vogel, A. Kessel, Z. Yang, C. Faber, M. C. Seraphim, G. HĂ€usler 
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  Tuning Structured Illumination Microscopy (SIM) for the Inspection of Micro Optical Components
  B22 11:15  B. H. Kleemann, M. Seeßelberg 
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  AbschĂ€tzung des DOE Streulichtanteils mit skalaren Formeln und deren GĂŒltigkeitsbereich - wie weit tragen diese?
  A23 11:30  O. Arold, Z. Yang, S.Ettl, G. HĂ€usler 
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  How precise is "Flying Triangulation"?
  B23 11:30  H. J. Frasch, T. Antrack 
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  Falschlicht, Streulicht, Geisterbilder - Simulation und Abhilfe
  A24 11:45  M. Pfeifer, M. Fratz, D. Carl, D. Skoczowsky, D. Giel, A. Heuer, H. Höfler  
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  Hochauflösendes 3D-Messystem auf Basis eines neuartigen digitalholographischen Multilambda-Sensors
  B24 11:45  H. Weigand, J. Ackermann, F. Gronwald 
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  3D-Freiform-Blenden - eine Prozesskette
  A25 12:00  L. Megel , M. Fratz, D. Carl, G. Knoll, V. Jetter, D. M. Giel, H. Höfler 
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  Realisierung eines hochauflösenden optischen Sensors auf Basis digitaler MehrwellenlĂ€ngenholografie
  B25 12:00  K.-H. Brenner 
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  Erzeugung wahlfreier IntensitĂ€tsverteilungen aus gerichteten und punktförmigen Strahlquellen mit zwei refraktiven oder reflektiven FlĂ€chen
 
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Freitag 28.05.2010

 Vortrag

Zeit

Saal

Autor(en) und Titel

Details

  S1 08:30  G. Burger, M. Hoppe 
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  From Microscope to Systems
  S2 09:00  L. Kastrup 
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  STED Microscopy
  S3 09:30  M. Wachsmuth 
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  The F-Techniques: Using Fluorescence Microscopy to Measure and Visualize Interactions and Mobilities of Biomolecules
  S4 10:30  I. Kleppe 
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  Hochauflösende Mikroskopie fĂŒr die Lebenswissenschaften: Strukturierte Beleuchtung (SIM) und photo-aktivierte Lokalisierung (PAL-M)
  S5 11:00  S. Motyka 
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  Industrial Microscopy: From Polarisation Optics up to latest profiling Technology
  S6 11:30  P. Gnauck 
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  Electron Microscopy - An Overview
  A26 13:30  Z. Li, F. Pilarski, D. Bergmann, B. Bodermann, E. Buhr 
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  Aufbau eines 193 nm Mikroskops als Strukturbreitenmesssystem fĂŒr Photomasken
  B26 13:30  J. Petter, R. Nicolaus, T. May, A. Noack, T. Tschudi 
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  Hochgenaue Vermessung asphĂ€rischer Linsen in der Fertigungsmaschine
  A27 13:45  E. Slogsnat, R. Buschlinger, K.-H. Brenner 
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  Miniaturisierte parallele Mikroskopie in der Systembiologie
  B27 13:45  E. Geist, K. Mantel, I. Harder, N. Lindlein 
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  Drei-Stellungstest fĂŒr AsphĂ€ren: Steigerung der Genauigkeit
  A28 14:00  J. BĂŒhl, A. Kießling, R. Kowarschik 
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  Mikroskopie mit synthetischer Apertur
  B28 14:00  H.-M. Heuck, J. Wesner, J. Heil 
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  Aberrationen in der "CatÂŽs Eye"-Konfiguration bei hohen Aperturen
  A29 14:15  T. Elsmann, A. Kießling, R. Kowarschik 
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  Auflösungssteigerung mittels bildinvertierender, digitaler holographischer Interferometrie fĂŒr die Mikroskopie
  B29 14:15  W. Iff, N. Lindlein 
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  Untersuchung der Abweichungen zwischen skalarer und rigoroser Rechnung an CGHs in Twyman-Green Interferometern zur LinsenprĂŒfung
  A30 14:45  M. MatthĂ€ 
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  Hochwertige Mikroskopobjektive mit ausgefallenen Leistungsparametern
  B30 14:45  L.A. Cacace, R. Henselmans, W.D. van Amstel 
Abstract anzeigen
  Neuer 'differentiell-konfokale' Distanz-Sensor fĂŒr die Vermessung von 'freiform'-AsphĂ€ren mit NANOMEFOS
  A31 15:00  C. Schulz 
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  Spezifikation und Design eines hochaperturigen Objektivs fĂŒr einen digitalen Probenscanner
  B31 15:00  W. Lyda, D. Fleischle, F. Mauch, T. Haist, W. Osten 
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  Vor- und Nachteile der chromatisch-konfokalen Spektralinterferometrie im Vergleich zur klassischen Spektralinterferometrie
  A32 15:15  H.-M. Heuck, J. Wesner, J. Heil 
Abstract anzeigen
  Computer-unterstĂŒtzter Sterntest fĂŒr Mikroskop-Objektive mit Auswertung der ModulationsĂŒbertragungsfunktion
  B32 15:15  H. Babovsky, J. BĂŒhl, M. Große, A. Kießling, R. Kowarschik 
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  3D-Rekonstruktion makroskopischer Objekte mittels digitaler Hologramme und strukturierter Beleuchtung
  A33 15:30  R. Shi 
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  Einfluss sphĂ€rischer Aberrationen auf die Fokuslage von Mikroskopobjektiven
  B33 15:30  A. Grote, B. Neumann, S. Buhl 
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  Smart Illumination fĂŒr die Detektion von Artefakten auf glĂ€nzenden gekrĂŒmmten OberflĂ€chen mit digitaler Bildverarbeitung
 
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Samstag 29.05.2010

 Vortrag

Zeit

Saal

Autor(en) und Titel

Details

  H6 09:00  S. Chatterjee 
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  Grundlagen der Ultrakurzzeitphysik: Laser, Impulsformen und Diagnostik
  H7 09:30  P.J. Klar 
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  Modulationsspektroskopie zur Charakterisierung komplexer Halbleiterbauelementstrukturen
  A34 10:30  A. Faridian, D. Hopp, G. Pedrini, W. Osten  
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  Deep Ultraviolet Digital Holography for nanoscopic application
  B34 10:30  S. Riehemann, A. Brahm , M. Kunz , G. Notni, A. TĂŒnnermann  
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  RĂ€umliche Identifikation chemischer Substanzen durch THz-Tomographie
  A35 10:45  T. Meinecke, N. Sabitov, S. Sinzinger 
Abstract anzeigen download Paper
  Verbundhologramme in der digitalholografischen Mikroskopie
  B35 10:45  S. Riehemann, A. Brahm , G. Notni, A. TĂŒnnermann  
Abstract anzeigen download Paper
  THz System mit 128 Kanal Linienemitter und -detektor
  A36 11:00  B. Kemper, P. Langehanenberg, A. Vollmer, S. Ketelhut, A. Bauwens, C. Rommel, J. Schnekenburger, J. Klokkers, B. Edemir, G. von Bally 
Abstract anzeigen
  Aktuelle Anwendungen digitalholographischer Mikroskopieverfahren in den Lebenswissenschaften
  B36 11:00  T. Kinder, T. MĂŒller-Wirts, M. Scheller, M. Koch 
Abstract anzeigen
  Pseudointerferometrische LĂ€ngenmessung und Refraktometrie mit Sub-Millimeter- (Terahertz-) Wellen
  A37 11:15  A. Oeder, C. Bauer, S. Sinzinger 
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  Optimierte Strahlformungs- und Fokussieroptik zur optischen Mikromanipulation
  B37 11:15  J. Jahns 
Abstract anzeigen
  Raum-zeitliche Eigenschaften eines Mikroretroreflektor-Arrays als Transversalfilter fĂŒr Femtosekunden-Anwendungen
  A38 11:30  K. Berghoff, M. Woerdemann, C. Denz 
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  Optische Doppel-Pinzette mit phasenkonjugierten Strahlen
  B38 11:30  T. Wieduwilt, H. Bartelt, R. Willsch 
Abstract anzeigen download Paper
  Gold-beschichtete Lichtleitfaser-Mikrotaper fĂŒr sensorische Anwendungen auf Basis der OberflĂ€chenplasmonenresonanz
  A39 11:45  C. Heßeling , C. Denz, A. Hermerschmidt 
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  Vergleich von Hard- und Software-Implementierungen zur CGH-Berechnung fĂŒr LC-Mikrodisplays und Anwendung in einer holografischen optischen Pinzette
  B39 11:45  K.-F. Klein, V. Khalilov, J. Shannon  
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  Breitbandige Quarzglasfaser fĂŒr Anwendungen im WellenlĂ€ngenbereich von 200 nm bis 2300 nm
 
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POSTER

 Vortrag

Autor(en) und Titel

Details

  P1   X. Ma, S. Sinzinger 
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  Mikrostrukturierung auf nicht ebenen GlasoberflĂ€chen mittels Interferenzlithographie
  P2   U. Jauernig, S. Schröter, S. BrĂŒckner, M. Vlcek, H. Bartelt 
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  Strukturierte Gitterkoppler auf den EndflĂ€chen von Lichtleitfasern fĂŒr Anwendungen zur spektralen Filterung und Sensorik
  P3   H. Winkelmann, M. Bohling, M. Gruber 
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  Spanende Fertigung mikrooptischer Komponenten mit einer parallelkinematischen Laborwerkzeugmaschine
  P4   T. Stehr, J. Hermsdorf, R. Kling 
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  Process control for laser micro spot welding using fast pyrometer systems
  P5   M. Balakrishnan, R. Spittel, J. Kobelke, K. Schuster, V. Reichel, H. Bartelt 
Abstract anzeigen download Paper
  FĂŒllung photonischer Kristallfasern mit elektro-optischen Polymeren
  P6   R.Wartmann, H.Schadwinkel 
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  Der Einfluß der Probeneinbettmedien auf die BildgĂŒte im Mikroskop
  P7   C.E. Rommel, C. Dierker, S. Przibilla, G. von Bally, B. Kemper, J. Schnekenburger 
Abstract anzeigen
  Kontrasterhöhung in der digitalholographischen Mikroskopie durch Manipulation des intrazellulĂ€ren Brechungsindexes
  P8   D. Weigel, A. Kießling, R. Kowarschik 
Abstract anzeigen download Paper
  Auflösungssteigerung bei optischen Rastermikroskopen mit Hilfe eines bildinvertierenden Interferometers
  P9   A. Kessel, M. Vogel, Z. Yang, C. Faber, M. C. Seraphim, G. HĂ€usler 
Abstract anzeigen
  Information efficient and accurate Structured Illumination Microscopy (SIM)
  P10   S. Buhl, B. Neumann, A. Grote 
Abstract anzeigen download Paper
  Bestimmung der KraftausĂŒbung einer optischen Pinzette auf Partikel in flĂŒssiger Umgebung mit Methoden der digitalen Bildverarbeitung
  P11   F. Hörner, M. Woerdemann, J. Ribbe, B. Maier, C. Denz 
Abstract anzeigen
  Anordnung molekularer Nanomotoren auf OberflĂ€chen mit Hilfe Holographisch Optischer Pinzetten
  P12   M. Amberg, S. Stoebenau, S. Sinzinger 
Abstract anzeigen
  Integriertes optofluidisches System aus PDMS zur optischen Manipulation
  P13   N. Sabitov, Th. Meinecke, S. Sinzinger 
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  Bestimmung der Genauigkeit beim holographischen Messverfahren in Mikrofluidsystemen
  P14   R. Dorn, M. Meyer, M. Beyerlein, J. Pfund 
Abstract anzeigen
  FunktionsprĂŒfung von Stereomikroskopobjektiven bei mehreren WellenlĂ€ngen mittes Shack-Hartmann Wellenfrontsensor
  P15   K. Mantel, E. Geist, I. Harder, N. Lindlein 
Abstract anzeigen
  Absoluttest von rotationssymmetrischen AsphĂ€ren mittels radialem Shearing
  P16   M. Schulz, H. Reinsch 
Abstract anzeigen download Paper
  Unsicherheitsanalyse von Keilwinkelmessungen mit einem wellenlĂ€ngenschiebenden Interferometer
  P17   B. Harendt, M. Große, R. Kowarschik 
Abstract anzeigen download Paper
  Gewinnung von Farbinformationen bei der 3D-Objektvermessung mit strukturierter Beleuchtung
  P18   F. Willomitzer, Z. Yang, O. Arold, S. Ettl, G. HĂ€usler 
Abstract anzeigen download Paper
  3D face scanning with "Flying Triangulation"
  P19   P. BerssenbrĂŒgge, M. Wantjer, M. Dekiff, C. Denz, D. Dirksen 
Abstract anzeigen download Paper
  Charakterisierung der Messgenauigkeit eines auf Laserspeckle-Korrelation basierenden 3D-Messsystems mittels der 3D-Übertragungsfunktion
  P20   M. Schaffer, M. Grosse, R. Kowarschik 
Abstract anzeigen download Paper
  Projektion von Speckle-Mustern zur 3D Formvermessung
  P21   M. Dekiff, M. Wantjer, P. BerssenbrĂŒgge, B. Kemper, C. Denz, D. Dirksen 
Abstract anzeigen download Paper
  Erweiterung des Messbereichs eines ESPI-Systems durch 3D-Formerfassung mittels Korrelation von Specklemustern
  P22   F. Salazar, F. GascĂłn 
Abstract anzeigen
  Einfluss der Justierung der Laserstrahlen bei der ASK Methode
  P23   D. Schmitz, S. Schröder, A. DuparrĂ© 
Abstract anzeigen
  Separation von Streulichteffekten zur zerstörungsfreien Detektion von Sub-Surface-Damage
  P24   S. Schröder, M. Trost, T. Herffurth, A. DuparrĂ© 
Abstract anzeigen
  Bewertung der PoliergĂŒte schwer zugĂ€nglicher OberflĂ€chen durch Streulichtmethoden
  P25   M. Wurm, S. Bonifer, B. Bodermann 
Abstract anzeigen download Paper
  Charakterisierung von DOEs mittels DUV-Scatterometrie
  P26   J. Muster , M. Stelzl  
Abstract anzeigen download Paper
  Optische Inline-Inspektion von Barrenglas
  P27   O. GrĂ€ff , A. Ortner 
Abstract anzeigen download Paper
  Neues Infrarot-PrĂŒfverfahren zur Detektion von Mikrorissen in Si-Wafern
  P28   P. Strohm, A. Blug, D. Carl, H. Höfler 
Abstract anzeigen
  Bildbasierte Echtzeitregelung von hochdynamischen Prozessen mit Zellularen Neuronalen Netzwerken (CNN)
  P29   S. Buhl, B. Neumann, A. Grote 
Abstract anzeigen download Paper
  Bewertung verschiedener Methoden zur Untersuchung mikroskopischer Zellbilder mit CV und CI fĂŒr die BiovertrĂ€glichkeit von Implantatwerkstoffen
  P30   J. Haus, U. Heimann, D. ZĂŒhlke 
Abstract anzeigen
  Automatisierte Pollenanalyse mit dem BioAerosolAnalyzer BAA500
  P31   M. Hasler, M. Warber, S. Zwick, W. Osten 
Abstract anzeigen download Paper
  Postprocessing SLM-basierter Phasenkontrastbilder
  P32   B. Hussendörfer, E. Geist, K. Mantel, N. Lindlein 
Abstract anzeigen download Paper
  Kalibrierverfahren von SphĂ€ren bei partieller KohĂ€renz
  P33   E. Olesch, C. Faber, M. Seraphim, G. HĂ€usler 
Abstract anzeigen download Paper
  New Holistic Self-Calibration Method for Deflectometric Sensors
  P34   J. Wesner 
Abstract anzeigen download Paper
  Justageempfindlichkeit, Retrace-Effekte und Korrektur der Restfehler bei Fizeau-Kondensoren
  P35   B. Satzer, S. Stoebenau, B. Mitschunas, S. Sinzinger  
Abstract anzeigen download Paper
  Design und Demonstrationsaufbau eines optischen Systems mit FreiformflĂ€che
  P36   M. Hillenbrand, M. Zhao, B. Mitschunas, S. Sinzinger 
Abstract anzeigen download Paper
  Untersuchungen zur Genauigkeit NURBS-basierter optischer FreiformflĂ€chen
  P37   H. Hampp, I. Harder, M. Lano, N. Lindlein 
Abstract anzeigen download Paper
  Computer generiertes Hologramm als punktsymmetrische Streuplatte
  P38   S. Vertu, I. Yamada, J.-J. Delaunay, O. HaeberlĂ©, J.FlĂŒgge 
Abstract anzeigen download Paper
  Diffraction microtomography with sample rotation : effect of the missing apple core on the reconstruction of the sample
  P39   M. Palme, C. Großmann, P. KĂŒhmstedt, G. Notni 
Abstract anzeigen download Paper
  Kontrolle des Montagezustands von optischen Systemen mittels CT-Messtechnik
  P40   O. Kashin, M. Homann, V. Matusevich, R. Kowarschik, F. Setzpfandt, V. Coda-Bouchot, R. Schiek, T. Pertsch  
Abstract anzeigen
  Einfluss des photorefraktiven Effekts auf die Erzeugung der zweiten Harmonischen in Ti:PPLN-Wellenleitern
  P41   E. Tolstik, O. Kashin, V. Matusevich, R. Kowarschik 
Abstract anzeigen
  (1+1)D selbstinduzierte Wellenleiter in Photopolymeren auf der Basis von Plexiglas
  P42   E. Tolstik, O. Kashin, V. Matusevich, R. Kowarschik 
Abstract anzeigen
  Einfluss von TemperaturĂ€nderung auf die Erzeugung selbstinduzierten (1+1)D-Wellenleiter in Photopolymeren auf Plexiglasbasis
  P43   M. P. Plattner, T. Zeh, A. W. Koch 
Abstract anzeigen download Paper
  Femtosekundenlaser-basierte FrequenzkĂ€mme fĂŒr optische Atomuhren
  P44   K.-F. Klein, J. Mannhardt, C. P. Gonschior, M. Belz 
Abstract anzeigen download Paper
  Quarzglasfasern in der instrumentelle UV-Analytik
  P45   H. Babovsky, H. Jungnickel, A. Kiessling, R. Kowarschik, M. Gebhardt, H.-J. Grein 
Abstract anzeigen download Paper
  Wellenfrontkorrektion menschlicher Augen mit einem adaptiv-optischen System
  P46   D. Link, S. Klee, B.U. Seifert, J. Haueisen  
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  P47   T. Roßmeier 
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  P48   M.Auer, K.-H.Brenner, N.Moll, T.Morf, M.Fertig, T.Stöferle, R.F.Mahrt, J.Weiss, T.PïŹ‚ĂŒger 
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  P49   E. Frins, B. Hils, H. Schmitzer, W. Dultz  
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  Modellierung eines adiabatischen Quantensuchalgorithmus mit Polarisationsoptik

 
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