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[0-9] A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z |
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Titel |
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Hauptautor |
Vortrag |
Details |
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| [0-9] |
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(1+1)D selbstinduzierte Wellenleiter in Photopolymeren auf der Basis von Plexiglas
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E. Tolstik |
P41 |
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3D-Freiform-Blenden - eine Prozesskette
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H. Weigand |
B24 |
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3D-Rekonstruktion makroskopischer Objekte mittels digitaler Hologramme und strukturierter Beleuchtung
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H. Babovsky |
B32 |
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3D face scanning with "Flying Triangulation"
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F. Willomitzer |
P18 |
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3D Nanoschichten zur Funktionalisierung von Grenzflächen
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R. Chavez |
A11 |
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| A |
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Aberrationen in der "Cat´s Eye"-Konfiguration bei hohen Aperturen
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H.-M. Heuck |
B28 |
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Abschätzung des DOE Streulichtanteils mit skalaren Formeln und deren Gültigkeitsbereich - wie weit tragen diese?
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B. H. Kleemann |
B22 |
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Absoluttest von rotationssymmetrischen Asphären mittels radialem Shearing
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K. Mantel |
P15 |
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Aktuelle Anwendungen digitalholographischer Mikroskopieverfahren in den Lebenswissenschaften
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B. Kemper |
A36 |
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Aktuelle Entwicklungen in der Optikdesignsoftware
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J. R. Rogers |
H4 |
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Algorithmic Elimination of Parasitic Reflections in Deflectometry
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C. Faber |
A18 |
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Anordnung molekularer Nanomotoren auf Oberflächen mit Hilfe Holographisch Optischer Pinzetten
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F. Hörner |
P11 |
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Anwendungen ortsvarianter Polarisationsverteilungen bei der Mikromaterialbearbeitung mit ultrakurzen Laserpulsen
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U. Klug |
B8 |
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Aufbau eines 193 nm Mikroskops als Strukturbreitenmesssystem für Photomasken
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Z. Li |
A26 |
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Auflösungssteigerung bei optischen Rastermikroskopen mit Hilfe eines bildinvertierenden Interferometers
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D. Weigel |
P8 |
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Auflösungssteigerung mittels bildinvertierender, digitaler holographischer Interferometrie für die Mikroskopie
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T. Elsmann |
A29 |
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Automatische Prozessüberwachung für das Polieren optischer Gläser
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F. Klocke |
A2 |
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Automatisierte Pollenanalyse mit dem BioAerosolAnalyzer BAA500
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J. Haus |
P30 |
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| B |
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Bestimmung der Genauigkeit beim holographischen Messverfahren in Mikrofluidsystemen
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N. Sabitov |
P13 |
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Bestimmung der Kraftausübung einer optischen Pinzette auf Partikel in flüssiger Umgebung mit Methoden der digitalen Bildverarbeitung
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S. Buhl |
P10 |
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Bewertung der Poliergüte schwer zugänglicher Oberflächen durch Streulichtmethoden
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S. Schröder |
P24 |
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Bewertung verschiedener Methoden zur Untersuchung mikroskopischer Zellbilder mit CV und CI für die Bioverträglichkeit von Implantatwerkstoffen
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S. Buhl |
P29 |
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Bildbasierte Echtzeitregelung von hochdynamischen Prozessen mit Zellularen Neuronalen Netzwerken (CNN)
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P. Strohm |
P28 |
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Bildverarbeitungsbasierte Streulichtprüfung hochdynamischer Kameras
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C. Raizner |
B3 |
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Breitbandige Quarzglasfaser für Anwendungen im Wellenlängenbereich von 200 nm bis 2300 nm
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K.-F. Klein |
B39 |
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| C |
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Charakterisierung der Messgenauigkeit eines auf Laserspeckle-Korrelation basierenden 3D-Messsystems mittels der 3D-Übertragungsfunktion
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P. Berssenbrügge |
P19 |
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Charakterisierung von DOEs mittels DUV-Scatterometrie
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M. Wurm |
P25 |
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Computer-generierte Polarisationshologramme zur vollständigen Kontrolle über Amplitude und Phase
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M. Fratz |
B10 |
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Computer-unterstützter Sterntest für Mikroskop-Objektive mit Auswertung der Modulationsübertragungsfunktion
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H.-M. Heuck |
A32 |
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Computer generiertes Hologramm als punktsymmetrische Streuplatte
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H. Hampp |
P37 |
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 |
| D |
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Deep Ultraviolet Digital Holography for nanoscopic application
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A. Faridian |
A34 |
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Der Einfluß der Probeneinbettmedien auf die Bildgüte im Mikroskop
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R.Wartmann |
P6 |
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Der Einsatz von Infrarot- bis Röntgenstrahlung zur optischen Messung von Mikro-Merkmalen
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I. Schmidt |
A12 |
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Design Considerations of Polishing Lap for Computer-Controlled Cylindrical Polishing Process
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G S Khan |
A1 |
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Design für ein Zoomobjektiv mit deformierbaren Spiegeln
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K. Seidl |
B12 |
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Design und Demonstrationsaufbau eines optischen Systems mit Freiformfläche
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B. Satzer |
P35 |
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Diamantbearbeitung komplexer optischer Oberflächen
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R. Gläbe |
H2 |
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Diffraction microtomography with sample rotation : effect of the missing apple core on the reconstruction of the sample
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S. Vertu |
P38 |
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Diffraktives 2D-Shearing-Interferometer mit partieller räumlicher Kohärenz
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V. Nercissian |
A17 |
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Digitalfotografie im professionellen Einsatz - Höchste Anforderungen an eine moderne Optik
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P. Karbe |
H3 |
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Drei-Stellungstest für Asphären: Steigerung der Genauigkeit
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E. Geist |
B27 |
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 |
| E |
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Effiziente Faserkopplung mit Gradientenindex-Stablinsen
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F. Merchán |
B14 |
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Effizientes Design und Modellierung von Gitterzellen-Diffusoren
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F. Wyrowski |
B21 |
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Einfluss der Justierung der Laserstrahlen bei der ASK Methode
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F. Salazar |
P22 |
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Einfluss des photorefraktiven Effekts auf die Erzeugung der zweiten Harmonischen in Ti:PPLN-Wellenleitern
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O. Kashin |
P40 |
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Einfluss sphärischer Aberrationen auf die Fokuslage von Mikroskopobjektiven
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R. Shi |
A33 |
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Einfluss von Temperaturänderung auf die Erzeugung selbstinduzierten (1+1)D-Wellenleiter in Photopolymeren auf Plexiglasbasis
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E. Tolstik |
P42 |
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Einsatzmöglichkeiten von CNN-Kameras in der optischen Messtechnik und der schnellen industriellen Bildverarbeitung
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D. Carl |
B2 |
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Electron Microscopy - An Overview
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P. Gnauck |
S6 |
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Erweiterung des Messbereichs eines ESPI-Systems durch 3D-Formerfassung mittels Korrelation von Specklemustern
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M. Dekiff |
P21 |
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Erzeugung wahlfreier Intensitätsverteilungen aus gerichteten und punktförmigen Strahlquellen mit zwei refraktiven oder reflektiven Flächen
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K.-H. Brenner |
B25 |
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| F |
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Füllung photonischer Kristallfasern mit elektro-optischen Polymeren
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M. Balakrishnan |
P5 |
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Falschlicht, Streulicht, Geisterbilder - Simulation und Abhilfe
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H. J. Frasch |
B23 |
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Farbstimulator für die elektrophysiologische Diagnostik am Auge
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D. Link |
P46 |
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Femtosekundenlaser-basierte Frequenzkämme für optische Atomuhren
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M. P. Plattner |
P43 |
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From Microscope to Systems
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G. Burger |
S1 |
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Funktionsprüfung von Stereomikroskopobjektiven bei mehreren Wellenlängen mittes Shack-Hartmann Wellenfrontsensor
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R. Dorn |
P14 |
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| G |
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Gewinnung von Farbinformationen bei der 3D-Objektvermessung mit strukturierter Beleuchtung
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B. Harendt |
P17 |
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Gold-beschichtete Lichtleitfaser-Mikrotaper für sensorische Anwendungen auf Basis der Oberflächenplasmonenresonanz
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T. Wieduwilt |
B38 |
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 |
Grundlagen der Ultrakurzzeitphysik: Laser, Impulsformen und Diagnostik
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S. Chatterjee |
H6 |
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| H |
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Hochauflösende Mikroskopie für die Lebenswissenschaften: Strukturierte Beleuchtung (SIM) und photo-aktivierte Lokalisierung (PAL-M)
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I. Kleppe |
S4 |
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Hochauflösendes 3D-Messystem auf Basis eines neuartigen digitalholographischen Multilambda-Sensors
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M. Pfeifer |
A24 |
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Hochgenaue Vermessung asphärischer Linsen in der Fertigungsmaschine
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J. Petter |
B26 |
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Hochwertige Mikroskopobjektive mit ausgefallenen Leistungsparametern
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M. Matthä |
A30 |
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How precise is "Flying Triangulation"?
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O. Arold |
A23 |
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 |
Hybride, optische Bauteile - Funktionalisierung nicht planer, optischer Oberflächen mittels Laserablation
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R. Kleindienst |
A6 |
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| I |
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Industrial Microscopy: From Polarisation Optics up to latest profiling Technology
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S. Motyka |
S5 |
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Information efficient and accurate Structured Illumination Microscopy (SIM)
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A. Kessel |
P9 |
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Insitu Charakterisierung von Absorptionsverlusten und Degradationseffekten in Quarzglas: Photothermie & Spannungsdoppelbrechung (BMWi-Projekt PoliLas)
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A. Bayer |
B5 |
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Integriertes optofluidisches System aus PDMS zur optischen Manipulation
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M. Amberg |
P12 |
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| J |
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Justageempfindlichkeit, Retrace-Effekte und Korrektur der Restfehler bei Fizeau-Kondensoren
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|
J. Wesner |
P34 |
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| K |
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 |
Kalibrierverfahren von Sphären bei partieller Kohärenz
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B. Hussendörfer |
P32 |
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 |
Kontrasterhöhung in der digitalholographischen Mikroskopie durch Manipulation des intrazellulären Brechungsindexes
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C.E. Rommel |
P7 |
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 |
Kontrolle des Montagezustands von optischen Systemen mittels CT-Messtechnik
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M. Palme |
P39 |
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Korrektur von Farbfehlern in Beleuchtungsoptik mit diffraktiven Elementen
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H. Ries |
B16 |
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| L |
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LED-Kameralicht mit kompaktem Zoom
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U. Hartwig |
A8 |
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| M |
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Measurement of nanometric deformations of microsystems
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G. Pedrini |
A13 |
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Messsystem zum experimentellen Nachweis der Polarisationsmodenkopplung in schubverzerrten Faser-Bragg-Gitter-Sensoren
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M. S. Müller |
B6 |
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Micro optical glass lens array for LED light collimation
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S. Reichel |
A7 |
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Mikroskop-Optik gestern und heute, der lange Weg zum perfekten Bild
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T. Sure |
H1 |
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Mikroskopie mit synthetischer Apertur
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J. Bühl |
A28 |
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Mikrostrukturierung auf nicht ebenen Glasoberflächen mittels Interferenzlithographie
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X. Ma |
P1 |
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Miniaturisierte parallele Mikroskopie in der Systembiologie
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E. Slogsnat |
A27 |
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Modellgestützte Rekonstruktion der Lage von dezentrierten Linsen in optischen Systemen
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H. Gilbergs |
B1 |
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Modellierung eines adiabatischen Quantensuchalgorithmus mit Polarisationsoptik
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E. Frins |
P49 |
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Modulationsspektroskopie zur Charakterisierung komplexer Halbleiterbauelementstrukturen
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P.J. Klar |
H7 |
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Multi-Pass Shack-Hartmann Ebenheits-Test: Monitoring von thermischen Deformationen
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J. Schwider |
A21 |
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Multimediaprojektionssystem mit OLED-Mikrodisplays
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C. Großmann |
A10 |
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| N |
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Neuer 'differentiell-konfokale' Distanz-Sensor für die Vermessung von 'freiform'-Asphären mit NANOMEFOS
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L.A. Cacace |
B30 |
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 |
Neues Infrarot-Prüfverfahren zur Detektion von Mikrorissen in Si-Wafern
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|
O. Gräff |
P27 |
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 |
New Holistic Self-Calibration Method for Deflectometric Sensors
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|
E. Olesch |
P33 |
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| O |
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Optikdesign als Schlüsseltechnologie für LED-Leuchten
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A. Timinger |
B15 |
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Optimierte Strahlformungs- und Fokussieroptik zur optischen Mikromanipulation
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A. Oeder |
A37 |
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Optische 3D-Vermessung transluzenter Materialien
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P. Lutzke |
A16 |
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Optische Doppel-Pinzette mit phasenkonjugierten Strahlen
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K. Berghoff |
A38 |
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Optische Inline-Inspektion von Barrenglas
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J. Muster |
P26 |
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 |
| P |
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Paraxiale Bestimmung der Steuerkurven von Zoomsystemen
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J. Sprenger |
B13 |
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Passe- und Rauheitsprüftechnik: Welche Sensorik ist die richtige?
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B. Dörband |
H5 |
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Plasma Jet Machining - Fertigung von off-axis Parabolspiegeln aus Siliziumkarbid
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T. Arnold |
A4 |
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Polieren optischer Präzisionsoberflächen mit Laserstrahlung - PoliLas
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A. Richmann |
A3 |
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Postprocessing SLM-basierter Phasenkontrastbilder
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M. Hasler |
P31 |
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Process control for laser micro spot welding using fast pyrometer systems
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T. Stehr |
P4 |
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Projektion von Speckle-Mustern zur 3D Formvermessung
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M. Schaffer |
P20 |
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PSD-Analyse: Schlüssel zur funktionsgerechten Rauheitscharakterisierung optischer Oberflächen
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L. Coriand |
A15 |
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Pseudointerferometrische Längenmessung und Refraktometrie mit Sub-Millimeter- (Terahertz-) Wellen
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T. Kinder |
B36 |
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| Q |
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Quarzglasfasern in der instrumentelle UV-Analytik
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K.-F. Klein |
P44 |
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 |
Quasi-analytische Beachtung der Materialdispersion bei der Propagation von fs Pulsen durch optische Systeme
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|
F. Wyrowski |
B20 |
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| R |
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 |
Räumliche Identifikation chemischer Substanzen durch THz-Tomographie
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S. Riehemann |
B34 |
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Radiale Temperaturverteilung in einer dünnen Linse aufgrund Absorption und Wärmeleitung
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M. Moritz |
B18 |
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Raum-zeitliche Eigenschaften eines Mikroretroreflektor-Arrays als Transversalfilter für Femtosekunden-Anwendungen
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J. Jahns |
B37 |
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 |
Realisierung eines hochauflösenden optischen Sensors auf Basis digitaler Mehrwellenlängenholografie
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|
L. Megel |
A25 |
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Rods for Miniaturized Ball Lenses, Discs & More!
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|
T. Roßmeier |
P47 |
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 |
| S |
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 |
Separation von Streulichteffekten zur zerstörungsfreien Detektion von Sub-Surface-Damage
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|
D. Schmitz |
P23 |
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 |
Smart Illumination für die Detektion von Artefakten auf glänzenden gekrümmten Oberflächen mit digitaler Bildverarbeitung
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A. Grote |
B33 |
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Spanende Fertigung mikrooptischer Komponenten mit einer parallelkinematischen Laborwerkzeugmaschine
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H. Winkelmann |
P3 |
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Spannungsarmes Löten von Linsenbaugruppen
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M. Hornaff |
B9 |
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 |
Spezifikation und Design eines hochaperturigen Objektivs für einen digitalen Probenscanner
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C. Schulz |
A31 |
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 |
STED Microscopy
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L. Kastrup |
S2 |
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 |
Strahlformungsmethoden für die Lasermaterialbearbeitung von dünnen Schichten
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B. Wojakowski |
B7 |
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Streulichtbasierte Partikelkonzentrationsmessung auf der Grundlage von planaren Strahler-Empfänger-Baugruppen
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|
M. Hofmann |
B4 |
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 |
Strukturierte Gitterkoppler auf den Endflächen von Lichtleitfasern für Anwendungen zur spektralen Filterung und Sensorik
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U. Jauernig |
P2 |
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| T |
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 |
The F-Techniques: Using Fluorescence Microscopy to Measure and Visualize Interactions and Mobilities of Biomolecules
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M. Wachsmuth |
S3 |
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 |
THz System mit 128 Kanal Linienemitter und -detektor
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S. Riehemann |
B35 |
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 |
Trigonometrische Durchrechnung von thermisch belasteten Optiksystemen
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|
D. Bürckner-Koydl |
B19 |
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Tuning Structured Illumination Microscopy (SIM) for the Inspection of Micro Optical Components
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|
M. Vogel |
A22 |
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 |
| U |
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Ultrapräzisionsfertigung für die Herstellung optischer Freiformflächen
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S. Stoebenau |
A5 |
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 |
Unsicherheitsanalyse von Keilwinkelmessungen mit einem wellenlängenschiebenden Interferometer
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|
M. Schulz |
P16 |
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Untersuchung der Abweichungen zwischen skalarer und rigoroser Rechnung an CGHs in Twyman-Green Interferometern zur Linsenprüfung
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W. Iff |
B29 |
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Untersuchungen zur Genauigkeit NURBS-basierter optischer Freiformflächen
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M. Hillenbrand |
P36 |
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 |
Untersuchung zum Zusammenhang von spektraler Abtastung und erreichbarer Messunsicherheit bei der chromatisch-konfokalen Mikroskopie an rauen Objekten
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D. Fleischle |
A14 |
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 |
UV-Deflectometry: No parasitic reflections
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D. Sprenger |
A19 |
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 |
| V |
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Verbesserte Empfindlichkeit eines Photodetektors durch die Einführung resonanter Strukturen im Standard SOI CMOS Prozess
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|
M.Auer |
P48 |
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Verbundhologramme in der digitalholografischen Mikroskopie
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T. Meinecke |
A35 |
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Vergleich von Hard- und Software-Implementierungen zur CGH-Berechnung für LC-Mikrodisplays und Anwendung in einer holografischen optischen Pinzette
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C. Heßeling |
A39 |
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Vergleich von hochgenauen deflektometrischen Verfahren für die Ebenheitsmetrologie
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G. Ehret |
A20 |
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Vergrößerung der Auflösung von Compound Eye Kameras durch individuell verstimmbare Einzelfacetten
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D. Pätz |
A9 |
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 |
Vor- und Nachteile der chromatisch-konfokalen Spektralinterferometrie im Vergleich zur klassischen Spektralinterferometrie
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W. Lyda |
B31 |
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| W |
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 |
Wavelet-Methoden zur Darstellung, Analyse und Simulation optischer Grenzflächen
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P. Jester |
B17 |
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Wellenfrontkorrektion menschlicher Augen mit einem adaptiv-optischen System
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H. Babovsky |
P45 |
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| Z |
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ZERODUR®-Spiegel und Strukturen mit sehr hoher Gewichtserleichterung
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|
P. Hartmann |
B11 |
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