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VORTRÄGE |
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Mittwoch 26.05.2010 |
Vortrag |
Zeit |
Saal |
Autor(en) und Titel |
Details |
H1 |
09:00 |
A |
T. Sure |
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Mikroskop-Optik gestern und heute, der lange Weg zum perfekten Bild |
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H2 |
09:30 |
A |
R. Gläbe |
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Diamantbearbeitung komplexer optischer Oberflächen |
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A1 |
10:45 |
A |
G S Khan, M. Gubarev, C. Speegle, B. Ramsey |
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Design Considerations of Polishing Lap for Computer-Controlled Cylindrical Polishing Process |
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B1 |
10:45 |
B |
H. Gilbergs, K. Frenner, P. Eberhard, W. Osten |
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Modellgestützte Rekonstruktion der Lage von dezentrierten Linsen in optischen Systemen |
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A2 |
11:00 |
A |
F. Klocke, O. Dambon, R. Zunke, D. Wächter |
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Automatische Prozessüberwachung für das Polieren optischer Gläser |
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B2 |
11:00 |
B |
D. Carl, P. Strohm, A. Blug, H. Höfler |
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Einsatzmöglichkeiten von CNN-Kameras in der optischen Messtechnik und der schnellen industriellen Bildverarbeitung |
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A3 |
11:15 |
A |
A. Richmann, E. Willenborg, K. Wissenbach |
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Polieren optischer Präzisionsoberflächen mit Laserstrahlung - PoliLas |
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B3 |
11:15 |
B |
C. Raizner, D. Fritsch |
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Bildverarbeitungsbasierte Streulichtprüfung hochdynamischer Kameras |
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A4 |
11:30 |
A |
T. Arnold, G. Böhm |
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Plasma Jet Machining - Fertigung von off-axis Parabolspiegeln aus Siliziumkarbid
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B4 |
11:30 |
B |
M. Hofmann, J. Schneider, R. Müller, S. Sinzinger |
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Streulichtbasierte Partikelkonzentrationsmessung auf der Grundlage von planaren Strahler-Empfänger-Baugruppen |
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A5 |
11:45 |
A |
S. Stoebenau, Th. Witt, S. Sinzinger |
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Ultrapräzisionsfertigung für die Herstellung optischer Freiformflächen |
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B5 |
11:45 |
B |
A. Bayer, U. Leinhos, M. Schöneck, K. Mann |
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Insitu Charakterisierung von Absorptionsverlusten und Degradationseffekten in Quarzglas: Photothermie & Spannungsdoppelbrechung (BMWi-Projekt PoliLas) |
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A6 |
12:00 |
A |
R. Kleindienst, S. Stoebenau, R. Kampmann, J. Pommer, N. Ebinger, S. Sinzinger |
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|
Hybride, optische Bauteile - Funktionalisierung nicht planer, optischer Oberflächen mittels Laserablation |
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B6 |
12:00 |
B |
M. S. Müller, T. C. Buck, A. Heßke, A. W. Koch |
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|
Messsystem zum experimentellen Nachweis der Polarisationsmodenkopplung in schubverzerrten Faser-Bragg-Gitter-Sensoren |
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H3 |
13:30 |
A |
P. Karbe, S. Kammans, J. Kaminski, S. Roth, D. Stuible,. B. Wiesner |
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|
Digitalfotografie im professionellen Einsatz - Höchste Anforderungen an eine moderne Optik |
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A7 |
14:00 |
A |
S. Reichel, R. Biertümpfel, V. Wittmer |
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|
Micro optical glass lens array for LED light collimation |
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B7 |
14:00 |
B |
B. Wojakowski, A. Schoonderbeek, O. Suttmann, J. Düsing und R. Kling |
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|
Strahlformungsmethoden für die Lasermaterialbearbeitung von dünnen Schichten |
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A8 |
14:15 |
A |
U. Hartwig, H. Rehn |
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|
LED-Kameralicht mit kompaktem Zoom |
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B8 |
14:15 |
B |
U. Klug, J. Düsing, S. Baum, R. Kling |
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|
Anwendungen ortsvarianter Polarisationsverteilungen bei der Mikromaterialbearbeitung mit ultrakurzen Laserpulsen |
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A9 |
14:30 |
A |
D. Pätz, S. Sinzinger, S. Leopold, M. Hoffmann, F. Knöbber, O. Ambacher |
|
|
Vergrößerung der Auflösung von Compound Eye Kameras durch individuell verstimmbare Einzelfacetten |
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B9 |
14:30 |
B |
M. Hornaff, E. Beckert, T. Burkhardt, R. Eberhardt, A. Tünnermann, H. Zoerb, S. Hedrich |
|
|
Spannungsarmes Löten von Linsenbaugruppen |
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A10 |
14:45 |
A |
C. Großmann, K. Frey, B. Hager, M. Palme, U. Lippmann, S. Riehemann, G. Notni |
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|
Multimediaprojektionssystem mit OLED-Mikrodisplays |
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B10 |
14:45 |
B |
M. Fratz, P. Fischer, D. Giel |
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|
Computer-generierte Polarisationshologramme zur vollständigen Kontrolle über Amplitude und Phase |
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A11 |
15:00 |
A |
R. Chavez |
|
|
3D Nanoschichten zur Funktionalisierung von Grenzflächen |
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B11 |
15:00 |
B |
P. Hartmann, M. Schäfer, Th. Westerhoff |
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|
ZERODUR®-Spiegel und Strukturen mit sehr hoher Gewichtserleichterung |
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A12 |
17:00 |
A |
I. Schmidt |
|
|
Der Einsatz von Infrarot- bis Röntgenstrahlung zur optischen Messung von Mikro-Merkmalen |
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B12 |
17:00 |
B |
K. Seidl, J. Knobbe, H. Lakner |
|
|
Design für ein Zoomobjektiv mit deformierbaren Spiegeln |
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A13 |
17:15 |
A |
G. Pedrini, S. Maisch, J. Gaspar, O. Paul, W. Osten |
|
|
Measurement of nanometric deformations of microsystems |
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B13 |
17:15 |
B |
J. Sprenger |
|
|
Paraxiale Bestimmung der Steuerkurven von Zoomsystemen |
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A14 |
17:30 |
A |
D. Fleischle , W. Lyda, F. Mauch, T. Haist, W. Osten |
|
|
Untersuchung zum Zusammenhang von spektraler Abtastung und erreichbarer Messunsicherheit bei der chromatisch-konfokalen Mikroskopie an rauen Objekten |
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B14 |
17:30 |
B |
F. Merchán, X. Liu, K.-H. Brenner |
|
|
Effiziente Faserkopplung mit Gradientenindex-Stablinsen |
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A15 |
17:45 |
A |
L. Coriand, S. Schröder, A. Duparré |
|
|
PSD-Analyse: Schlüssel zur funktionsgerechten Rauheitscharakterisierung optischer Oberflächen |
|
B15 |
17:45 |
B |
A. Timinger |
|
|
Optikdesign als Schlüsseltechnologie für LED-Leuchten |
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A16 |
18:00 |
A |
P. Lutzke, P. Kühmstedt, G. Notni |
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|
Optische 3D-Vermessung transluzenter Materialien |
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B16 |
18:00 |
B |
H. Ries, R. Jetter |
|
|
Korrektur von Farbfehlern in Beleuchtungsoptik mit diffraktiven Elementen |
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A17 |
18:15 |
A |
V. Nercissian, K. Mantel, I. Harder, A. Berger, J. Schwider, N. Lindlein |
|
|
Diffraktives 2D-Shearing-Interferometer mit partieller räumlicher Kohärenz
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B17 |
18:15 |
B |
P. Jester , C. Menke, K. Urban |
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|
Wavelet-Methoden zur Darstellung, Analyse und Simulation optischer Grenzflächen |
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Donnerstag 27.05.2010 |
Vortrag |
Zeit |
Saal |
Autor(en) und Titel |
Details |
H4 |
08:30 |
A |
J. R. Rogers |
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|
Aktuelle Entwicklungen in der Optikdesignsoftware |
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H5 |
09:00 |
A |
B. Dörband |
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|
Passe- und Rauheitsprüftechnik: Welche Sensorik ist die richtige? |
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A18 |
10:00 |
A |
C. Faber, M. C. Seraphim, D. Sprenger, G. Häusler |
|
|
Algorithmic Elimination of Parasitic Reflections in Deflectometry |
|
B18 |
10:00 |
B |
M. Moritz |
|
|
Radiale Temperaturverteilung in einer dünnen Linse aufgrund Absorption und Wärmeleitung |
|
A19 |
10:15 |
A |
D. Sprenger, C. Faber, M.C. Seraphim, G. Häusler |
|
|
UV-Deflectometry: No parasitic reflections |
|
B19 |
10:15 |
B |
D. Bürckner-Koydl, H. Heckmann, U. Ruhnau, R. Birkner |
|
|
Trigonometrische Durchrechnung von thermisch belasteten Optiksystemen
|
|
A20 |
10:30 |
A |
G. Ehret, M. Schulz, M. Baier, A. Fitzenreiter,
M. Stavridis, C. Elster
|
|
|
Vergleich von hochgenauen deflektometrischen Verfahren für die Ebenheitsmetrologie |
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B20 |
10:30 |
B |
F. Wyrowski, C. Hellmann, H. Schweitzer |
|
|
Quasi-analytische Beachtung der Materialdispersion bei der Propagation von fs Pulsen durch optische Systeme |
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A21 |
10:45 |
A |
J. Schwider |
|
|
Multi-Pass Shack-Hartmann Ebenheits-Test: Monitoring von thermischen Deformationen |
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B21 |
10:45 |
B |
F. Wyrowski, C. Hellmann, H. Schweitzer, M. Kuhn |
|
|
Effizientes Design und Modellierung von Gitterzellen-Diffusoren |
|
A22 |
11:15 |
A |
M. Vogel, A. Kessel, Z. Yang, C. Faber, M. C. Seraphim, G. Häusler |
|
|
Tuning Structured Illumination Microscopy (SIM) for the Inspection of Micro Optical Components
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|
B22 |
11:15 |
B |
B. H. Kleemann, M. Seeßelberg |
|
|
Abschätzung des DOE Streulichtanteils mit skalaren Formeln und deren Gültigkeitsbereich - wie weit tragen diese? |
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A23 |
11:30 |
A |
O. Arold, Z. Yang, S.Ettl, G. Häusler |
|
|
How precise is "Flying Triangulation"? |
|
B23 |
11:30 |
B |
H. J. Frasch, T. Antrack |
|
|
Falschlicht, Streulicht, Geisterbilder - Simulation und Abhilfe |
|
A24 |
11:45 |
A |
M. Pfeifer, M. Fratz, D. Carl, D. Skoczowsky, D. Giel, A. Heuer, H. Höfler |
|
|
Hochauflösendes 3D-Messystem auf Basis eines neuartigen digitalholographischen Multilambda-Sensors |
|
B24 |
11:45 |
B |
H. Weigand, J. Ackermann, F. Gronwald |
|
|
3D-Freiform-Blenden - eine Prozesskette |
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A25 |
12:00 |
A |
L. Megel , M. Fratz, D. Carl, G. Knoll, V. Jetter, D. M. Giel, H. Höfler |
|
|
Realisierung eines hochauflösenden optischen Sensors auf Basis digitaler Mehrwellenlängenholografie |
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B25 |
12:00 |
B |
K.-H. Brenner |
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|
Erzeugung wahlfreier Intensitätsverteilungen aus gerichteten und punktförmigen Strahlquellen mit zwei refraktiven oder reflektiven Flächen |
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Freitag 28.05.2010 |
Vortrag |
Zeit |
Saal |
Autor(en) und Titel |
Details |
S1 |
08:30 |
A |
G. Burger, M. Hoppe |
|
|
From Microscope to Systems |
|
S2 |
09:00 |
A |
L. Kastrup |
|
|
STED Microscopy |
|
S3 |
09:30 |
A |
M. Wachsmuth |
|
|
The F-Techniques: Using Fluorescence Microscopy to Measure and Visualize Interactions and Mobilities of Biomolecules |
|
S4 |
10:30 |
A |
I. Kleppe |
|
|
Hochauflösende Mikroskopie für die Lebenswissenschaften: Strukturierte Beleuchtung (SIM) und photo-aktivierte Lokalisierung (PAL-M) |
|
S5 |
11:00 |
A |
S. Motyka |
|
|
Industrial Microscopy: From Polarisation Optics up to latest profiling Technology |
|
S6 |
11:30 |
A |
P. Gnauck |
|
|
Electron Microscopy - An Overview |
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A26 |
13:30 |
A |
Z. Li, F. Pilarski, D. Bergmann, B. Bodermann, E. Buhr |
|
|
Aufbau eines 193 nm Mikroskops als Strukturbreitenmesssystem für Photomasken |
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B26 |
13:30 |
B |
J. Petter, R. Nicolaus, T. May, A. Noack, T. Tschudi |
|
|
Hochgenaue Vermessung asphärischer Linsen in der Fertigungsmaschine |
|
A27 |
13:45 |
A |
E. Slogsnat, R. Buschlinger, K.-H. Brenner |
|
|
Miniaturisierte parallele Mikroskopie in der Systembiologie |
|
B27 |
13:45 |
B |
E. Geist, K. Mantel, I. Harder, N. Lindlein |
|
|
Drei-Stellungstest für Asphären: Steigerung der Genauigkeit |
|
A28 |
14:00 |
A |
J. Bühl, A. Kießling, R. Kowarschik |
|
|
Mikroskopie mit synthetischer Apertur |
|
B28 |
14:00 |
B |
H.-M. Heuck, J. Wesner, J. Heil |
|
|
Aberrationen in der "Cat´s Eye"-Konfiguration bei hohen Aperturen |
|
A29 |
14:15 |
A |
T. Elsmann, A. Kießling, R. Kowarschik |
|
|
Auflösungssteigerung mittels bildinvertierender, digitaler holographischer Interferometrie für die Mikroskopie |
|
B29 |
14:15 |
B |
W. Iff, N. Lindlein |
|
|
Untersuchung der Abweichungen zwischen skalarer und rigoroser Rechnung an CGHs in Twyman-Green Interferometern zur Linsenprüfung |
|
A30 |
14:45 |
A |
M. Matthä |
|
|
Hochwertige Mikroskopobjektive mit ausgefallenen Leistungsparametern
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|
B30 |
14:45 |
B |
L.A. Cacace, R. Henselmans, W.D. van Amstel |
|
|
Neuer 'differentiell-konfokale' Distanz-Sensor für die Vermessung von 'freiform'-Asphären mit NANOMEFOS |
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A31 |
15:00 |
A |
C. Schulz |
|
|
Spezifikation und Design eines hochaperturigen Objektivs für einen digitalen Probenscanner |
|
B31 |
15:00 |
B |
W. Lyda, D. Fleischle, F. Mauch, T. Haist, W. Osten |
|
|
Vor- und Nachteile der chromatisch-konfokalen Spektralinterferometrie im Vergleich zur klassischen Spektralinterferometrie |
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A32 |
15:15 |
A |
H.-M. Heuck, J. Wesner, J. Heil |
|
|
Computer-unterstützter Sterntest für Mikroskop-Objektive mit Auswertung der Modulationsübertragungsfunktion |
|
B32 |
15:15 |
B |
H. Babovsky, J. Bühl, M. Große, A. Kießling, R. Kowarschik |
|
|
3D-Rekonstruktion makroskopischer Objekte mittels digitaler Hologramme und strukturierter Beleuchtung |
|
A33 |
15:30 |
A |
R. Shi |
|
|
Einfluss sphärischer Aberrationen auf die Fokuslage von Mikroskopobjektiven |
|
B33 |
15:30 |
B |
A. Grote, B. Neumann, S. Buhl |
|
|
Smart Illumination für die Detektion von Artefakten auf glänzenden gekrümmten Oberflächen mit digitaler Bildverarbeitung |
|
|
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Samstag 29.05.2010 |
Vortrag |
Zeit |
Saal |
Autor(en) und Titel |
Details |
H6 |
09:00 |
A |
S. Chatterjee |
|
|
Grundlagen der Ultrakurzzeitphysik: Laser, Impulsformen und Diagnostik |
|
H7 |
09:30 |
A |
P.J. Klar |
|
|
Modulationsspektroskopie zur Charakterisierung komplexer Halbleiterbauelementstrukturen |
|
A34 |
10:30 |
A |
A. Faridian, D. Hopp, G. Pedrini, W. Osten |
|
|
Deep Ultraviolet Digital Holography for nanoscopic application |
|
B34 |
10:30 |
B |
S. Riehemann, A. Brahm , M. Kunz , G. Notni, A. Tünnermann |
|
|
Räumliche Identifikation chemischer Substanzen durch THz-Tomographie |
|
A35 |
10:45 |
A |
T. Meinecke, N. Sabitov, S. Sinzinger |
|
|
Verbundhologramme in der digitalholografischen Mikroskopie |
|
B35 |
10:45 |
B |
S. Riehemann, A. Brahm , G. Notni, A. Tünnermann |
|
|
THz System mit 128 Kanal Linienemitter und -detektor |
|
A36 |
11:00 |
A |
B. Kemper, P. Langehanenberg, A. Vollmer, S. Ketelhut, A. Bauwens, C. Rommel, J. Schnekenburger, J. Klokkers, B. Edemir, G. von Bally |
|
|
Aktuelle Anwendungen digitalholographischer Mikroskopieverfahren in den Lebenswissenschaften
|
|
B36 |
11:00 |
B |
T. Kinder, T. Müller-Wirts, M. Scheller, M. Koch |
|
|
Pseudointerferometrische Längenmessung und Refraktometrie mit Sub-Millimeter- (Terahertz-) Wellen |
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A37 |
11:15 |
A |
A. Oeder, C. Bauer, S. Sinzinger |
|
|
Optimierte Strahlformungs- und Fokussieroptik zur optischen Mikromanipulation |
|
B37 |
11:15 |
B |
J. Jahns |
|
|
Raum-zeitliche Eigenschaften eines Mikroretroreflektor-Arrays als Transversalfilter für Femtosekunden-Anwendungen |
|
A38 |
11:30 |
A |
K. Berghoff, M. Woerdemann, C. Denz |
|
|
Optische Doppel-Pinzette mit phasenkonjugierten Strahlen |
|
B38 |
11:30 |
B |
T. Wieduwilt, H. Bartelt, R. Willsch |
|
|
Gold-beschichtete Lichtleitfaser-Mikrotaper für sensorische Anwendungen auf Basis der Oberflächenplasmonenresonanz |
|
A39 |
11:45 |
A |
C. Heßeling , C. Denz, A. Hermerschmidt |
|
|
Vergleich von Hard- und Software-Implementierungen zur CGH-Berechnung für LC-Mikrodisplays und Anwendung in einer holografischen optischen Pinzette |
|
B39 |
11:45 |
B |
K.-F. Klein, V. Khalilov, J. Shannon |
|
|
Breitbandige Quarzglasfaser für Anwendungen im Wellenlängenbereich von 200 nm bis 2300 nm |
|
|
|
POSTER |
Vortrag |
Autor(en) und Titel |
Details |
P1 |
|
X. Ma, S. Sinzinger |
|
|
Mikrostrukturierung auf nicht ebenen Glasoberflächen mittels Interferenzlithographie |
|
P2 |
|
U. Jauernig, S. Schröter, S. Brückner, M. Vlcek, H. Bartelt |
|
|
Strukturierte Gitterkoppler auf den Endflächen von Lichtleitfasern für Anwendungen zur spektralen Filterung und Sensorik |
|
P3 |
|
H. Winkelmann, M. Bohling, M. Gruber |
|
|
Spanende Fertigung mikrooptischer Komponenten mit einer parallelkinematischen Laborwerkzeugmaschine |
|
P4 |
|
T. Stehr, J. Hermsdorf, R. Kling |
|
|
Process control for laser micro spot welding using fast pyrometer systems |
|
P5 |
|
M. Balakrishnan, R. Spittel, J. Kobelke, K. Schuster, V. Reichel, H. Bartelt |
|
|
Füllung photonischer Kristallfasern mit elektro-optischen Polymeren |
|
P6 |
|
R.Wartmann, H.Schadwinkel |
|
|
Der Einfluß der Probeneinbettmedien auf die Bildgüte im Mikroskop |
|
P7 |
|
C.E. Rommel, C. Dierker, S. Przibilla, G. von Bally, B. Kemper, J. Schnekenburger |
|
|
Kontrasterhöhung in der digitalholographischen Mikroskopie durch Manipulation des intrazellulären Brechungsindexes |
|
P8 |
|
D. Weigel, A. Kießling, R. Kowarschik |
|
|
Auflösungssteigerung bei optischen Rastermikroskopen mit Hilfe eines bildinvertierenden Interferometers |
|
P9 |
|
A. Kessel, M. Vogel, Z. Yang, C. Faber, M. C. Seraphim, G. Häusler |
|
|
Information efficient and accurate Structured Illumination Microscopy (SIM) |
|
P10 |
|
S. Buhl, B. Neumann, A. Grote |
|
|
Bestimmung der Kraftausübung einer optischen Pinzette auf Partikel in flüssiger Umgebung mit Methoden der digitalen Bildverarbeitung |
|
P11 |
|
F. Hörner, M. Woerdemann, J. Ribbe, B. Maier, C. Denz |
|
|
Anordnung molekularer Nanomotoren auf Oberflächen mit Hilfe Holographisch Optischer Pinzetten |
|
P12 |
|
M. Amberg, S. Stoebenau, S. Sinzinger |
|
|
Integriertes optofluidisches System aus PDMS zur optischen Manipulation |
|
P13 |
|
N. Sabitov, Th. Meinecke, S. Sinzinger |
|
|
Bestimmung der Genauigkeit beim holographischen Messverfahren in Mikrofluidsystemen |
|
P14 |
|
R. Dorn, M. Meyer, M. Beyerlein, J. Pfund |
|
|
Funktionsprüfung von Stereomikroskopobjektiven bei mehreren Wellenlängen mittes Shack-Hartmann Wellenfrontsensor |
|
P15 |
|
K. Mantel, E. Geist, I. Harder, N. Lindlein |
|
|
Absoluttest von rotationssymmetrischen Asphären mittels radialem Shearing |
|
P16 |
|
M. Schulz, H. Reinsch |
|
|
Unsicherheitsanalyse von Keilwinkelmessungen mit einem wellenlängenschiebenden Interferometer |
|
P17 |
|
B. Harendt, M. Große, R. Kowarschik |
|
|
Gewinnung von Farbinformationen bei der 3D-Objektvermessung mit strukturierter Beleuchtung |
|
P18 |
|
F. Willomitzer, Z. Yang, O. Arold, S. Ettl, G. Häusler |
|
|
3D face scanning with "Flying Triangulation" |
|
P19 |
|
P. Berssenbrügge, M. Wantjer, M. Dekiff, C. Denz, D. Dirksen |
|
|
Charakterisierung der Messgenauigkeit eines auf Laserspeckle-Korrelation basierenden 3D-Messsystems mittels der 3D-Ãœbertragungsfunktion |
|
P20 |
|
M. Schaffer, M. Grosse, R. Kowarschik |
|
|
Projektion von Speckle-Mustern zur 3D Formvermessung |
|
P21 |
|
M. Dekiff, M. Wantjer, P. Berssenbrügge, B. Kemper, C. Denz, D. Dirksen |
|
|
Erweiterung des Messbereichs eines ESPI-Systems durch 3D-Formerfassung mittels Korrelation von Specklemustern |
|
P22 |
|
F. Salazar, F. Gascón |
|
|
Einfluss der Justierung der Laserstrahlen bei der ASK Methode |
|
P23 |
|
D. Schmitz, S. Schröder, A. Duparré |
|
|
Separation von Streulichteffekten zur zerstörungsfreien Detektion von Sub-Surface-Damage |
|
P24 |
|
S. Schröder, M. Trost, T. Herffurth, A. Duparré |
|
|
Bewertung der Poliergüte schwer zugänglicher Oberflächen durch Streulichtmethoden |
|
P25 |
|
M. Wurm, S. Bonifer, B. Bodermann |
|
|
Charakterisierung von DOEs mittels DUV-Scatterometrie |
|
P26 |
|
J. Muster , M. Stelzl
|
|
|
Optische Inline-Inspektion von Barrenglas
|
|
P27 |
|
O. Gräff , A. Ortner |
|
|
Neues Infrarot-Prüfverfahren zur Detektion von Mikrorissen in Si-Wafern |
|
P28 |
|
P. Strohm, A. Blug, D. Carl, H. Höfler |
|
|
Bildbasierte Echtzeitregelung von hochdynamischen Prozessen mit Zellularen Neuronalen Netzwerken (CNN) |
|
P29 |
|
S. Buhl, B. Neumann, A. Grote |
|
|
Bewertung verschiedener Methoden zur Untersuchung mikroskopischer Zellbilder mit CV und CI für die Bioverträglichkeit von Implantatwerkstoffen |
|
P30 |
|
J. Haus, U. Heimann, D. Zühlke |
|
|
Automatisierte Pollenanalyse mit dem BioAerosolAnalyzer BAA500 |
|
P31 |
|
M. Hasler, M. Warber, S. Zwick, W. Osten |
|
|
Postprocessing SLM-basierter Phasenkontrastbilder |
|
P32 |
|
B. Hussendörfer, E. Geist, K. Mantel, N. Lindlein |
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Kalibrierverfahren von Sphären bei partieller Kohärenz |
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P33 |
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E. Olesch, C. Faber, M. Seraphim, G. Häusler |
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New Holistic Self-Calibration Method for Deflectometric Sensors |
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P34 |
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J. Wesner |
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Justageempfindlichkeit, Retrace-Effekte und Korrektur der Restfehler bei Fizeau-Kondensoren |
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P35 |
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B. Satzer, S. Stoebenau, B. Mitschunas, S. Sinzinger |
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Design und Demonstrationsaufbau eines optischen Systems mit Freiformfläche |
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P36 |
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M. Hillenbrand, M. Zhao, B. Mitschunas, S. Sinzinger |
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Untersuchungen zur Genauigkeit NURBS-basierter optischer Freiformflächen |
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P37 |
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H. Hampp, I. Harder, M. Lano, N. Lindlein |
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Computer generiertes Hologramm als punktsymmetrische Streuplatte |
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P38 |
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S. Vertu, I. Yamada, J.-J. Delaunay, O. Haeberlé, J.Flügge |
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Diffraction microtomography with sample rotation : effect of the missing apple core on the reconstruction of the sample |
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P39 |
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M. Palme, C. Großmann, P. Kühmstedt, G. Notni |
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Kontrolle des Montagezustands von optischen Systemen mittels CT-Messtechnik |
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P40 |
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O. Kashin, M. Homann, V. Matusevich, R. Kowarschik, F. Setzpfandt, V. Coda-Bouchot, R. Schiek, T. Pertsch
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Einfluss des photorefraktiven Effekts auf die Erzeugung der zweiten Harmonischen in Ti:PPLN-Wellenleitern |
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P41 |
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E. Tolstik, O. Kashin, V. Matusevich, R. Kowarschik |
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(1+1)D selbstinduzierte Wellenleiter in Photopolymeren auf der Basis von Plexiglas |
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P42 |
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E. Tolstik, O. Kashin, V. Matusevich, R. Kowarschik |
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Einfluss von Temperaturänderung auf die Erzeugung selbstinduzierten (1+1)D-Wellenleiter in Photopolymeren auf Plexiglasbasis |
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P43 |
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M. P. Plattner, T. Zeh, A. W. Koch |
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Femtosekundenlaser-basierte Frequenzkämme für optische Atomuhren |
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P44 |
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K.-F. Klein, J. Mannhardt, C. P. Gonschior, M. Belz |
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Quarzglasfasern in der instrumentelle UV-Analytik |
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P45 |
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H. Babovsky, H. Jungnickel, A. Kiessling, R. Kowarschik, M. Gebhardt, H.-J. Grein |
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Wellenfrontkorrektion menschlicher Augen mit einem adaptiv-optischen System |
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P46 |
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D. Link, S. Klee, B.U. Seifert, J. Haueisen |
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Farbstimulator für die elektrophysiologische Diagnostik am Auge |
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P47 |
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T. Roßmeier |
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Rods for Miniaturized Ball Lenses, Discs & More! |
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P48 |
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M.Auer, K.-H.Brenner, N.Moll, T.Morf, M.Fertig, T.Stöferle, R.F.Mahrt, J.Weiss, T.Pflüger |
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Verbesserte Empfindlichkeit eines Photodetektors durch die Einführung resonanter Strukturen im Standard SOI CMOS Prozess |
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P49 |
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E. Frins, B. Hils, H. Schmitzer, W. Dultz |
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Modellierung eines adiabatischen Quantensuchalgorithmus mit Polarisationsoptik |
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