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VORTRÄGE

Mittwoch 03.06.2020

 Vortrag

Zeit

Saal

Autor(en) und Titel

Details

  H1 09:00  R. B. Bergmann , C. Falldorf 
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  Computational Optical Metrology fĂŒr neue AnsĂ€tze in der Formmessung (Hauptvortrag)
  H2 09:30  M. Chekhova 
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  High-gain parametric down-conversion and its applications
  A1 10:30  M. Landmann , H. Speck, P. Dietrich , S. Heist, P. KĂŒhmstedt, G. Notni  
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  Schnelle 3D-Vermessung von GlĂ€sern mittels sequenzieller thermischer Streifenprojektion
  B1 10:30  C. Schulz 
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  Mikroskopobjektiv mit großem Korrektionsverstellbereich fĂŒr die Beobachtung von lebenden oder geklĂ€rten Proben durch Ein- und Zweiphotonmikroskopie
  A2 10:45  J. Lich, T. Wollmann, H. Zhang, R. Kuschmierz, A. Filippatos, M. Gude, J. Czarske 
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  Beugungsgitterbasierte SchĂ€digungs-, Eigenfrequenz- und Eigenformmessung an schnelldrehenden Faserverbundrotoren
  B2 10:45  S. Ludwig, P. Ruchka, G. Pedrini, W. Osten 
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  Scatter-plate microscopy with coherent illumination and moving scattering media
  A3 11:00  L. Quentin, R. Beermann, M. KĂ€stner, E. Reithmeier 
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  Ein Zwei-Kamera Zwei-Projektor Streifenprojektionssystem zur Synchronisierten Geometriemessung in Kleinen Zeitfenstern
  B3 11:00  Á. Barroso, S. Ketelhut, P. Heiduschka, G. Nettels-Hackert, J. Schnekenburger, B. Kemper 
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  Bestimmung der Brechungsindexdispersion und Glaukom-bedingten GewebeverĂ€nderungen der Retina mit multispektraler digitalholograpischer Mikroskopie
  A4 11:15  J. Dunkel, D. Höhne, M. Heinze, A. Oberdörster, Ch. Gassner, A. Reimann, P. KĂŒhmstedt 
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  3D-Sensor bestehend aus zwei miniaturisierten Arraykameras und einem Gobo-Projektionssystem fĂŒr autonomes Fahren
  B4 11:15  A. I. Lampe, J. Kiefer 
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  Entwicklung einer spektroskopischen Messmethode zur Analyse von Lebensmittelkomponenten
  A5 11:30  S. Hartlieb, F. Guerra, M. Tscherpel, R. Hahn, T. Haist, W. Osten 
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  Anwendungsgebiete der Multipoint Technik in der 3D-Positionsmessung
  B5 11:30  J. Dremel, E. Scharf, R. Kuschmierz, J. Czarske 
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  Endoskopische Pinzette unter Nutzung von digitaler Optik
  H3 12:45  K. Mantel, I. Barakat, G. Frascella , N. Lindlein, M. Chekhova  
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  Supersensitive Phasenmessungen fĂŒr zweidimensionale PrĂŒflinge – eine Fallstudie
  A6 13:30  N. Melchert, M. KĂ€stner, E. Reithmeier 
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  FlĂŒssigkristall-basiertes ND-Filter zur automatischen Kontrasteinstellung interferometrischer Rauheitsmessungen an inhomogenen OberflĂ€chen
  B6 13:30  A. Engelke 
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  Forschungsförderung durch die DFG
  A7 13:45  J. Stempin, D. Stöbener , A. Fischer  
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  Robuste polychromatische Speckle-Rauheitsmessungen durch implizite Korrektion des Einflusses der OberflĂ€chenneigung
  B7 13:45  J. Overbeck 
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  Photonik – eine SchlĂŒsseltechnologie der Digitalisierung
  A8 14:00  M. Agour , C. Falldorf, R. B. Bergmann  
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  Form profiler based on imaging with spatially partially coherent light
  B8 14:00  S. Wolff 
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  Material Compliance 2020 – Fokus Optisches Glas
  A9 14:15  S. Rothau, K. Mantel, N. Lindlein 
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  Diskussion und Analysis der OberflĂ€chenvermessung konvexer, rauer SphĂ€ren mittels Interferometrie in streifender Inzidenz
  B9 14:15  A. Hofmann 
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  Charakter und Bedeutung von VDI-Richtlinien und DIN-Normen am Beispiel der Entwicklung und Fertigung von Freiformoptiken
  A10 14:30  E. Kuhn, A. Nicolaus 
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  Zwei Interferometer fĂŒr die Realisierung des neuen Kilogramms: Messungen mit ïŹ/4000 Genauigkeit
  B10 14:30  T. Dziomba, R. Kafka 
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  Richtlinien- und Normungsarbeit: Erfahrungen aus dem Bereich der Mikro- und Nanomesstechnik
  H4 15:00    C. Husemann 
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  Computational Imaging Applications: Techniques, Challenges, and Prospects
  A11 15:45  S.K. Patra, J. Bartsch, M. Kalms, R.B. Bergmann  
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  Modelling the influences of technical surfaces on Phase Measuring Deflectometry
  B11 15:45  A. Boinski, O. Riemer, L. Schönemann , B. Karpuschewski  
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  Fast Tool Servo-Diamantdrehen von strukturierten FreiformflĂ€chen
  A12 16:00  J. Bartsch, R.B. Bergmann  
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  Phasenmessende Deflektometrie mit aktiver Displayregistrierung
  B12 16:00  J. WĂŒster, D. Fischer, A. Behrens, P. Feßer, S. Sinzinger 
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  SubwellenlĂ€ngenstrukturierte Gitter mit kontrollierbaren Beugungseffizienzen
  A13 16:15  T. Zimmermann, M. Heinze, P. Dietrich, S. Heist, P. KĂŒhmstedt, G. Notni 
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  Deflektometrie unter Verwendung aperiodischer Sinusmuster
  B13 16:15  M. Knoblich , M. Kraus , E. Förster , H.-J. Dobschal, D. Stumpf, H. Hillmer, R. Brunner  
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  Ringförmige Grautonlithografie zur Herstellung rotationssymmetrischer mikrooptischer Elemente – Konzeption und Funktionsnachweis
  A14 16:30  S. Hartel, H. Liang, C. Faber 
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  Ein neuer Ansatz fĂŒr den Phase-Unwrap bei der monokularen phasenmessenden Single-Shot Deflektometrie
  B14 16:30  D. Fischer, S. Sinzinger 
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  Mikrostrukturierung auf nicht-planen OberflĂ€chen durch SLM-basierte holographische Lithographie
  A15 16:45  D. Uhlig, M. Heizmann 
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  Temporale Phasenentfaltung fĂŒr Phasenmessende 3D-Messtechnik mittels zirkulĂ€rer Statistik
  B15 16:45  V. Hagemann, R. Jedamzik, F. Rupp, U. Petzold, V. Dietrich 
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  Optische Materialien fĂŒr die Digitale Projektion
 
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Donnerstag 04.06.2020

 Vortrag

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Autor(en) und Titel

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  H5 08:30  A. Berner, H. Gross 
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  Theorie und Bedeutung von Induzierte Farbfehlern
  A16 09:15  J. Jahns 
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  Gilt die Abbe’sche Sinusbedingung fĂŒr diffraktive Linsen?
  B16 09:15  A. Pak 
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  Quality assessment of geometric camera calibration
  A17 09:30  H. Forrer 
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  8K-Endoskopie: Motivation, Herausforderungen, Optik Design
  B17 09:30  H. Bossemeyer, P. Ahlborn, M. KĂ€stner, E. Reithmeier 
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  Modellbasierte, adaptive SchĂ€tzung von Kameramatrizen fĂŒr fokusvariable Anwendungen der optischen Messtechnik
  A18 09:45  S. Pulwer, D. Jahns, C. Villringer, J. Bauer, S. Schrader 
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  Imaging systems based on four-spherical-mirror design
  B18 09:45  A. F. MĂŒller, C. Falldorf, M. Agour , M. Lotzgeselle, A. Straub, G. Ehret, R. B. Bergmann  
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  Four-dimensional calibration of a Multiple Aperture Shear-Interferometer
  A19 10:00  J. Hofmann, T. Bonhoff, J. Stollenwerk, P. Loosen, J. Gerads, M. Röbig, C. Hopmann 
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  Auslegungsmethodik fĂŒr Kunststoffoptiken in Laseranwendungen
  B19 10:00  M. Fischedick, G. Bartl, A. Walkov 
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  LĂ€ngenmessungen in einseitig und beidseitig optisch antastenden Interferometern
  A20 10:45  E. Langenbach 
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  Kollimatoren fĂŒr Diodenlaser
  B20 10:45  C. Eder, M. Rank, Y. Bauckhage, A. Heinrich 
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  DLP basierte Graustufenstrukturierung auf Mikrometerbasis in der Additiven Fertigung
  A21 11:00  M. Hesker, J. Stollenwerk , P. Loosen  
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  Integration von Akusto-Optischen Modulatoren (AOM) in eine 8x8 Multistrahloptik fĂŒr die Lasermaterialbearbeitung durch Verwendung von Prismen
  B21 11:00  A. Heinrich, M. Rosner 
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  Kann man einen Laser "3D Drucken"
  A22 11:15  N. Grubert, G. König, J. Stollenwerk , P. Loosen  
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  Methodik zur kostenbasierten Toleranzbudgetfestlegung optomechanischer Systeme
  B22 11:15  T. Grabe, T. Biermann, M. Bayerl, A. Wolf, R. Lachmayer 
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  Quantitative analysis of additively manufactured transparent polymer optics
  A23 11:30  G. König, M. Grochowski, M. Eckert, F. Jakobczak, J. Stollenwerk, P. Loosen 
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  Apparat zur automatisierten Justage optischer Systeme
  B23 11:30  T. Milde, C. Knechtel 
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  Process monitoring and inspection in metal additive manufacturing: powder bed inspection with angle selective illumination
 
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Freitag 05.06.2020

 Vortrag

Zeit

Saal

Autor(en) und Titel

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  S1 08:30  S. Leitz, S.Verpoort, M.Gerhards, U.Wittrock, M.Freudling, A. Grzesik, M. Erhard, P. Hallibert 
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  A deformable mirror for aberration correction in space telescopes
  S2 09:00  J. M. Rohr 
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  Interferometrie im Weltraum: GRACE Follow-on, LISA und der Einfluss von Singlemode Fasern
  S3 09:30  V. MĂŒller 
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  Optical Design of the Laser Ranging Interferometer on GRACE Follow-On
  S4 10:30  V. Perlick  
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  Microlensing as a tool for detecting exoplanets
  H6 14:00  M. Hentschel 
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  Von FlĂŒstergalerieresonatoren zu neuartigen optischen Bauelementen
  A24 15:00  T. Handte, S. Sinzinger, O. Mollenhauer, L. Dittrich, B. Goj 
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  Photoakustischer Sensor zur Detektion strahlungsinduzierter DruckstĂ¶ĂŸe
  B24 15:00  L. Fu, M. Daiber-Huppert, K. Frenner, W. Osten 
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  Rigorous speckle simulator for large area rough surfaces using surface integral equations and multilevel fast multipole method
  A25 15:15  D. Tyralla, T. Seefeld, C. Thomy 
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  Neuartige Methode zur ortsaufgelösten Temperaturmessung mittels konventioneller RGB-Farbkamera
  B25 15:15  M. Stavridis, I. Fortmeier, M. Schulz, C. Elster 
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  SimOptDevice – Ein Werkzeug fĂŒr virtuelle Experimente in der Optik
  A26 15:30  M. Prochnau, S. Andres, J. Stollenwerk, P. Loosen 
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  Miniaturisierte optische Messsonde zur Detektion von TropfengrĂ¶ĂŸen in Dampfturbinen
  B26 15:30  G. B. Baer, J. Siepmann 
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  Vergleich und Optimierung von CPU- und GPU-basierten Berechnungen fĂŒr typische Funktionen im Optikdesign
  A27 15:45  K. Pflieger, L. Overmeyer 
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  A Routing Algorithm for Additively Manufactured Planar Optical Networks
  B27 15:45  C. Backhaus, C. Stuprich, M. Frankenbach, K. Zakaria, A. Wienke, Y. Eiche, S. Kaierle, J. Franke, N. Lindlein 
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  Herausforderungen bei der Simulation von Polymer Optischen Wellenleitern mit der Wave Propagation Method
  A28 16:00  P. Hausler, J. Fischer, L. Wunderlich, C. Roth, S. Peller, T. Hirsch, R. Bierl 
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  Miniaturisierte Sensoren basierend auf OberflĂ€chenplasmonenresonanz, Chancen und Herausforderungen
  B28 16:00  P.-P. Ley, R.Lachmayer 
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  Hybrid Ray Tracing
  A29 16:15  F. Thiemicke, L. PĂ€tzold, M. Agour , C. Falldorf, R. B. Bergmann  
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  Fabrication of polymer-based microstructures on optical multimode fibers
  B29 16:15  M. Bosch, M. Hentschel 
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  Optische Systeme im Phasenraumbild
  A30 16:45  V. Aslani, T. Haist 
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  Rauschreduktion durch den Einsatz von maschinellem Lernen in der Bildverarbeitung
  B30 16:45  C. Falldorf, D. Prigge, R. B. Bergmann  
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  Three-dimensional display of objects using spherical wave field synthesis
  A31 17:00  M. Schake, G. Ehret 
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  Machine learning based fitting of Zernike polynomials for annular subaperture stitching interferometry
  B31 17:00  M. Giehl, S. Alt, C. Neumann 
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  Anpassung volumenholografischer Gitterzellenarrays an divergente LED Beleuchtung
  A32 17:15  J. W. Czarske, St. Rothe, Q. Zhang, N. Koukourakis 
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  Multimode-Fasern fĂŒr die InformationsĂŒbertragung mit verbesserter Datensicherheit
  B32 17:15  D. Karthaus, M. Giehl 
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  Anpassung von Volumenhologrammen an die Rekonstruktion mit Multi-LED Beleuchtung
  A33 17:30  L. Hoffmann, M. Stavridis, I. Fortmeier, M. Schulz, C. Elster 
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  Hybridmethode zur OberflĂ€chenrekonstruktion von optischen AsphĂ€ren und Freiformen: Maschinelles Lernen basierend auf dem Tilted-Wave Interferometer
  B33 17:30  H. Rehn, J. Muschaweck 
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  Étenduebestimmung bei nichttrivialer Geometrie
 
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Samstag 06.06.2020

 Vortrag

Zeit

Saal

Autor(en) und Titel

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  H7 09:00  C. Koos 
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  3D Nano-Printing in Integrated Optics: From Laboratory Experiments to Industrial Production
  A34 10:00  G. Behrends, D. Stöbener , A. Fischer  
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  Digitale Speckle-Korrelation zur Vorschubbestimmung bei der lateral scannenden Weißlichtinterferometrie
  B34 10:00  F. Rothermel, S. Thiele, C. Jung, A. Herkommer 
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  Ansatz zur Aktuierung 3D-gedruckter Mikrooptiken mittels magnetischer FlĂŒssigkeiten
  A35 10:15  I. Alekseenko, D. Claus, M. Grabherr 
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  Stable and compact VCSEL based multiple-wavelength digital holography for optical metrology
  B35 10:15  A. Bösemann, A. Behrens, S. Sinzinger 
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  Untersuchung optisch aktiver Beschichtungen fĂŒr optischen MikrokavitĂ€ten
  A36 10:30  D. Claus, M. Rauf Nizami 
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  Impact of Aberrations and roughness in chromatic confocal microscopy
  B36 10:30  A. Evertz, G. Hoffmann, L. Overmeyer 
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  Integration of Printed Optical Waveguides in Printed Circuit Boards
  A37 10:45  S. KrĂ€mer, T. Sure 
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  Bestimmung von Zernike-Koeffizienten auf Basis gemessener Linienbildfunktionen
  B37 10:45  J. Belkner, J. Döll, C. Koppka, M. Breiter, I. Ortlepp, U. Gerhardt, S. Strehle, E. Manske 
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  A thermal actuated Membrane as oscillating Pinhole for the high-frequent Modulation of Light
  A38 11:00  T. Trautvetter, H. Baierl, V. Reichel, J. SchĂ€fer, R. Methling, A. Scheffel, J. Dellith, D. Köpp, F. Hempel, M. Stankov, M. Baeva, R. Foest, L. Wondraczek, K. Wondraczek, H. Bartelt 
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  Plasma-based synthesis of multicomponent preform material for high-performance optical fibers
  B38 11:00  J. Unterhinninghofen 
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  Nah- und Fernfeld von gekoppelten Mikroresonatoren
  A39 11:30  J. Kiefer 
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  Raman-Spektroskopie mit Multilinienlichtquellen
  B39 11:30  E. Hofbauer, R. Kometer 
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  Neues berĂŒhrungsloses Zentriermess- und Formmessverfahren fĂŒr AsphĂ€ren - poliert und geschliffen
  A40 11:45  M. Kraus , E. Förster , T. Hönle, V. Bagusat, D. Thomae, P. Bohnert, R. BrĂŒning, H. Hillmer, R. Brunner  
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  Konzeptvergleich verschiedener kompakter Kreuzgitter-Spektrometer
  B40 11:45  K. Keller, J. Unterhinninghofen, A. Hofmann 
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  Zusammenspiel von OberflĂ€chenrauheit und Formabweichungen in Freiformoptiken fĂŒr Beleuchtung - hilfreiche StöreinflĂŒsse?
  A41 12:00  A. Kobylinskiy , B. Laue, E. Förster , B. Höfer, Y. Shen, H. Hillmer, R. Brunner  
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  Erhebliche Steigerung der Detektionseffizienz fĂŒr Filterarray-basierte Spektralsensoren
  B41 12:00  J. Spichtinger, M. Stavridis, A. Straub, C. Elster, M. Schulz, G. Ehret 
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  Simulation einer hochgenauen optischen Formmessung an Freiformoptiken mit GrĂ¶ĂŸen bis zu 1,5 Metern
  A42 12:15  M. Hubold, Ch. Gassner, R. Leitel, R. Brunner , R. BrĂŒning 
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  Ultrakompakte Snapshot Multispektralkamera mittels Mikrooptik und monolithischem Filterarray
  B42 12:15  Y. Sekman , M. Trost 
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  General surface definition for describing figure and finish errors
 
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POSTER

 Vortrag

Autor(en) und Titel

Details

  P1   R. Cheng, J. Kiefer 
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  Correction of distorted ATR infrared spectra
  P2   B. Weigt , K. Homeyer , R. Lachmayer  
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  Bestimmung der Halbleiterparameter einer kommerziellen LED wĂ€hrend der Alterung durch KapazitĂ€tsmessung
  P3   C. Schober, C. Pruss, A. Herkommer 
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  Sensordesign fĂŒr die NPMM-200 am Beispiel eines Weisslichtsensors
  P4   X. Cao, P. Feßer, S. Sinzinger 
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  Einfluss der Rotation der Gitter auf den Lau-Effekt
  P5   M. Brinkmann, U. Langbein 
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  Modellierung und Vermessung von Optischen Diffusoren
  P6   G. Ehret, J. Bautsch, M. Schulz 
Abstract anzeigen download Paper
  Kalibrierung von Wellenfrontsensoren mit ebenen und sphĂ€rischen Wellenfronten
  P7   H. Liang, T. Sauer, C. Faber 
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  Lokalisierte Single-Shot-Auswertung fĂŒr die phasenmessende Deflektometrie mit Wavelet Transformation
  P8   S. Rothau, T. Schamburek, K. Mantel, N. Lindlein 
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  Interferometrie in streifender Inzidenz an AsphĂ€ren: Simulationen und Messergebnisse
  P9   M. Lotzgeselle, A. Straub, G. Ehret, A. F. MĂŒller, C. Falldorf, R. B. Bergmann  
Abstract anzeigen download Paper
  Iterative Bestimmung der Form von AsphĂ€ren mittels Scher-Interferometrie und inversem Raytracing
  P10   M. Kalms, R. B. Bergmann 
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  Die Strukturfunktion als neue Analysemethode in der optischen OberflĂ€chenmesstechnik
  P11   S. Reichel, K. Blankenbach, F. SpĂ€th, P. Majer 
Abstract anzeigen download Paper
  Optical Characterization of Automotive Interior Materials by BSDF
  P12   K. Blankenbach, S. Reichel, D. Ochs 
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  Evaluation of Advanced Automotive Interior Lighting using “Pixelated” RGB LEDs
  P13   B. Chen, D. Claus, D. Russ, R. Hibst 
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  Characterization and optical design of VCSEL diode for application in 3D mobile Sensorsystems
  P14   J. KrĂŒger, R. Köning, B. Bodermann 
Abstract anzeigen download Paper
  Charakterisierung eines UV– Mikroskops zur hochgenauen Positions- und Breitenmessung am Nanometerkomparator (NMK) der PTB
  P15   N. Storm, Á. Barroso, J. Schnekenburger, B. Kemper 
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  Charakterisierung und Kompensation von wellenlĂ€ngenabhĂ€ngigen Aberrationen in der multispektralen digitalholographischen Mikroskopie
  P16   T. Döhring, C. Stritzelberger, W. Rosendahl, U. Busch 
Abstract anzeigen download Paper
  Forschungsstation an der TH Aschaffenburg – SchĂŒlerexperimente im Röntgen-JubilĂ€umsjahr
  P17   M. v. Wrangel, M. KĂ€stner, E. Reithmeier 
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  Robustes zĂ€hlen von Triebwerksschaufeln wĂ€hrend der Video-Endoskopie
  P18   J. Könemann , O. Baumann 
Abstract anzeigen download Paper
  Optimierung der Pulsradarerfassung kleiner Flugobjekte durch Verstellen des Antennenwinkels
  P19   S. J. Rinner, M. Kahl, C. Ziolek, H. Schmid 
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  Innovative System for Automated Measurement of the Distribution of the Length of Natural Fibres
  P20   T. Milde, L. Stoppe 
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  Optical quality assurance in the textile industry: determination of the pilling grade of textile samples
  P21   C. LĂ€mmerzahl,. V. Perlick 
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  Simulation of the general-relativistic light deflection with a plastic lens
  P22   B. Mitschunas, L. Lenk, St. Sinzinger 
Abstract anzeigen
  Design eines Zoomobjektivs mit verstimmbarer Linse fĂŒr ein Projektionsobjektiv
  P23   T. Biermann, T. Grabe, P.-P. Ley, R. Lachmayer 
Abstract anzeigen download Paper
  Potentials and challenges of additive manufacturing using highly transparent silicone materials
  P24   C. Butka, T. Sure 
Abstract anzeigen download Paper
  GĂŒnstige 3D gedruckte Fassungen, eine Alternative fĂŒr den Prototypenbau?
  P25   J. SteinbrĂŒck, M. GrĂŒne, A. C. Rimbach, P. W. Nolte, S. Schweizer  
Abstract anzeigen download Paper
  Lichtkonversion und Farbmischung mit lumineszierenden LichtstĂ€ben
  P26   T. Grunewald, M. Wurm, S. Teichert, B. Bodermann, J. Reck, U. Richter 
Abstract anzeigen
  Analysis of ellipsometric layer thickness measurements applying a novel optimization method for depolarizing Mueller matrices
  P27   E. Frins, B. Hils, D. Dietrich, W. Dultz, H. Schmitzer 
Abstract anzeigen download Paper
  An Adaptive Mechanical Articulation to Illustrate Minkowski‘s Space-Time in Special Relativity
  P28   C. M. Beckmann, J. Ihlemann 
Abstract anzeigen
  Formkorrektur von Substraten aus Borosilikatglas mit ns-UV-Laserpulsen
  P29   R. Hudec, H. Novakova, V . Pritzl, J. Vojnar, T. Döhring 
Abstract anzeigen
  CubeSat mission for the observation of meteoroid impacts on Moon
  P30   L. Niekamp, T. Döhring, P. Rees, R. Hudec 
Abstract anzeigen download Paper
  Technologies, challenges and opportunities for optical CubeSat payloads
  P31   C. Konermann , B. Frank , S. van den Driesche , M. Waespy , U. Mirastschijski , S. Kelm , A. Waite, M. J. Vellekoop  
Abstract anzeigen
  Optisches Sensorsystem zur Überwachung der Sauerstoffkonzentration in biologischen Proben
  P32   M. Hofmann, R. Römer, K. Lemke, S. Sinzinger 
Abstract anzeigen
  Optimierte Lichtschichtmikroskopie durch adaptive Korrektur in Anregungs- und Detektionsstrahlengang
  P33   C. Roth, R. Bierl 
Abstract anzeigen
  Entwicklung eines Echzeit-SchĂ€dlingsmonitoringsystems auf Basis einer energieeffizienten optischen Sensoreinheit
  P34   J. Kobelke, R. Fatobene Ando, J. Bierlich, A. Lorenz, A. Schwuchow, K. Wondraczek 
Abstract anzeigen
  Herstellung Mikrostrukturierter Hohlkernfasern fĂŒr spektroskopische Anwendungen
  P35   J. Bierlich, A. Hartung, A. Lorenz, J. Kobelke, C. Aichele, F. Lindner, M. JĂ€ger, V. Reichel, K. Wondraczek 
Abstract anzeigen
  Entwicklung optischer Spezialfasern fĂŒr breitbandige Laserlichtquellen
  P36   Sh. Gharbi Ghebjagh, S. Sinzinger 
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  Generation of coaxial arrays of petal-like beams and ring lattice structures with controllable rotation using composite spiral multi-value zone plates
  P37   A. Behrens, P. Fesser, S. Sinzinger 
Abstract anzeigen
  Optimierte PlasmaĂ€tzverfahren fĂŒr die Fabrikation von Whispering Gallery Mode Resonatoren mit sehr hohen GĂŒten
  P38   L. Lenk, P. Feßer, S. Sinzinger 
Abstract anzeigen
  Effizienzachromatisierung diffraktiver optischer Elemente ĂŒber mehrlagige Strukturen aus Fused Silica und PDMS
  P39   J. Bauer, M. Gutke, A. Kaltenbach, M. Burkhardt, M. Gruenefeld, M. Gamp, M. Edling, P. Steglich, F. Heinrich, S. Schrader 
Abstract anzeigen download Paper
  Asymmetrische Polymer-Linsen fĂŒr Beleuchtungssysteme
  P40   M. Gutke, J. Bauer, A. Kaltenbach, M. Burkhardt, M. Gruenefeld, M. Gamp, M. Edling, V. Stoycheva, P. Steglich, F. Heinrich, S. Steffen, M. Herzog, C. Dreyer , S. Schrader, C. Gerhard 
Abstract anzeigen download Paper
  Neuartige UV-transparente 2-Komponenten-Polyurethanharze fĂŒr Chip-on-Board-LED-Mikrolinsen
  P41   T. Döhring, M. Stollenwerk, V. Cotroneo, G.Pareschi, V. Stehlikova, V. Burwitz, E. Gibertini, L. Magagnin 
Abstract anzeigen
  Development of broadband reflection coatings for future X-ray telescopes

 
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